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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2012-01-27 09:05 FDTD法を用いたキットモジュール測定用回路の1GHz超の電流分布解析 ○阿部善彦・桑原伸夫（九工大）・村松秀則（VCCI協会）・島先敏貴（NECエンジニアリング）  EMCJ2011-111 |
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| 抄録 | （和） | VCCIでは，ハードディスクやメモリ等のキットモジュールからの妨害波を給電線 上に現れる妨害波電流レベルにより評価する方法を提案して運用している．近年 ，電子機器の高速化により，1GHz 以上においても妨害波を放射するようになり ，キットモジュール測定においても1GHz 以上の測定法の検討が必要になってい る．キットモジュールの測定ではマイクロストリップ線路をチップコンデンサで デカップリングしたテストボードを使用するが，1GHz 以上の周波数では，線路 上に発生する定在波の影響により電流レベルが変化してしまう．この影響を防ぐ ためには，線路上の多くの点で電流を測定し，その最大値を求める必要がある． また，チップコンデンサは，1GHz以上では，その機能を果たしているか検討が必 要である． 本報告ではFDTD法を用いて電流分布の解析を行い測定結果と比較を行っている． その結果，測定用の回路を適切に構成すれば，デカップリング用のチップコンデ ンサに近い位置で測定を行えば約1dB以内の精度で最大値を測定することが可能なことがわかった． |
| （英） | The method of evaluating disturbances from the kit-modules, such as a ha rd disk and a memory, has been proposed and is carried out by VCCI. In t his method, the disturbance level is evaluated by a disturbance current on power supply line. In recent years, the processing speed of electrica l equipment is increasing and the disturbances above 1 GHz appears on po wer supply line. Therefore, we should develop the method of evaluating d isturbance for the kit-modules above 1 GHz. The disturbance level of the kit-modules is evaluated by using the test board which is constructed w ith the micro strip line decoupled by chip capacitor. In frequency range of above 1 GHz, the disturbance level on the line changes by the influe nce of the standing wave. The maximum level should be obtained by the cu rrent level on many points of the line in order to reduce the influence. In addition, the effect of chip capacitors should be confirmed. In this report, the current distribution on the test board is calculate d by using the FDTD method and it is evaluated by the measurement result . As a result, when the measurement is carried out at the nearest positi on of the chip capacitor, the deviation from the maximum level is within 1 dB. |
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| キーワード | （和） | VCCI / キットモジュール / FDTD法 / / / / / |
| （英） | VCCI / Kit-module / FDTD method / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 111, no. 420, EMCJ2011-111, pp. 1-6, 2012年1月. | |
| 資料番号 | EMCJ2011-111 | |
| 発行日 | 2012-01-20 (EMCJ) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | EMCJ2011-111 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMCJ |
| 開催期間 | 2012-01-27 - 2012-01-27 |
| 開催地（和） | 九州大学 |
| 開催地（英） | Kyushu Univ. |
| テーマ（和） | 通信, EMC, 一般 |
| テーマ（英） | Communication, EMC, etc. |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | EMCJ |
| 会議コード | 2012-01-EMCJ |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | FDTD法を用いたキットモジュール測定用回路の1GHz超の電流分布解析 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Current distribution analysis by FDTD method for measurement circuit of kit-module above 1GHz |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | VCCI / VCCI |
| キーワード(2)（和/英） | キットモジュール / Kit-module |
| キーワード(3)（和/英） | FDTD法 / FDTD method |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 阿部 善彦 / Yoshihiko Abe / アベ ヨシヒコ |
| 第1著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyusyu Institute of Technology (略称： KIT) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 桑原 伸夫 / Nobuo Kuwabara / クワバラ ノブオ |
| 第2著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyusyu Institute of Technology (略称： KIT) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 村松 秀則 / Hidenori Muramatsu / ムラマツ ヒデノリ |
| 第3著者 所属（和/英） | VCCI協会 (略称： VCCI協会) VCCI Council (略称： VCCI) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 島先 敏貴 / Toshiki Shimasaki / シマサキ トシキ |
| 第4著者 所属（和/英） | NECエンジニアリング (略称： NECエンジニアリング) NEC Engineering (略称： NEC-E) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2012-01-27 09:05:00 |
| 発表時間 | 20分 |
| 申込先研究会 | EMCJ |
| 資料番号 | EMCJ2011-111 |
| 巻番号（vol） | vol.111 |
| 号番号（no） | no.420 |
| ページ範囲 | pp.1-6 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2012-01-20 (EMCJ) |
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