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講演抄録/キーワード
講演名 2012-01-28 10:18
偏光解析法に基づいた液晶材料の弾性定数K22の高精度測定
石鍋隆宏森田ゆずか大野友嗣東北大)・宮下哲哉東北工大)・内田龍男仙台高専EID2011-26 エレソ技報アーカイブへのリンク:EID2011-26
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文献情報 信学技報, vol. 111, no. 421, EID2011-26, pp. 63-66, 2012年1月.
資料番号 EID2011-26 
発行日 2012-01-20 (EID) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
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研究会情報
研究会 EID ITE-IDY IEE-EDD  
開催期間 2012-01-27 - 2012-01-28 
開催地(和) 秋田大学 手形キャンパス 
開催地(英) Akita University 
テーマ(和) 発光型/非発光型ディスプレイ 
テーマ(英) Display technology, etc 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 EID 
会議コード 2012-01-EID-IDY-EDD 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 偏光解析法に基づいた液晶材料の弾性定数K22の高精度測定 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) High Precision Measurement of Twist Elastic Constant K22 of LC Materials Based on the Ellipsometry Analysis 
サブタイトル(英)  
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 石鍋 隆宏 / Takahiro Ishinabe / イシナベ タカヒロ
第1著者 所属(和/英) 東北大学 (略称: 東北大)
Tohoku University (略称: Tohoku Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 森田 ゆずか / Yuzuka Morita / モリタ ユズカ
第2著者 所属(和/英) 東北大学 (略称: 東北大)
Tohoku University (略称: Tohoku Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 大野 友嗣 / Yuji Ohno / オオノ ユウジ
第3著者 所属(和/英) 東北大学 (略称: 東北大)
Tohoku University (略称: Tohoku Univ.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 宮下 哲哉 / Tetsuya Miyashita / ミヤシタ テツヤ
第4著者 所属(和/英) 東北工業大学 (略称: 東北工大)
Tohoku Institute of Technology (略称: Tohoku Inst. of Tech)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 内田 龍男 / Tatsuo Uchida /
第5著者 所属(和/英) 仙台高等専門学校 (略称: 仙台高専)
Sendai National College of Technology (略称: Sendai Nat. College of Tech)
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講演者 第1著者 
発表日時 2012-01-28 10:18:00 
発表時間 8分 
申込先研究会 EID 
資料番号 EID2011-26 
巻番号(vol) vol.111 
号番号(no) no.421 
ページ範囲 pp.63-66 
ページ数
発行日 2012-01-20 (EID) 


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