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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2012-02-13 14:00 バウンダリスキャンテストにおける新たな課題 ～ 相互接続テスト中にIC内部で発生している問題の考察 ～ ○亀山修一（富士通/愛媛大）・馬場雅之（富士通）・樋上喜信・高橋 寛（愛媛大）  DC2011-81 |
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| 抄録 | （和） | エレクトロニクス製品の小型高機能化に伴い実装プリント板の高密度化が増々進んでおり，実装不良を容易に検出できるバウンダリスキャンテストが必要不可欠になりつつある．バウンダリスキャンテストは，これまでLSI 間の相互接続テストに関して論じられることが多かったが，今回筆者らはバウンダリスキャンテスト中のLSI の内部回路の挙動を分析し，テスト上の課題について考察した． |
| （英） | The miniaturization of electronic products is causing printed circuit boards to progress in the direction of higher density, using, for example, BGA (Ball Grid Array) devices. In this situation, Boundary-scan Test technology is increasingly more important, since it is the best way to detect manufacturing defects easily on the dense boards. This paper describes a side-effect caused by an internal disruption within an IC during the Boundary-Scan test, and also describes the root-cause and the measures for it on the basis of our experience. | |
| キーワード | （和） | バウンダリスキャン / テスト / 内部回路 / 相互接続テスト / ロボトミー問題 / / / |
| （英） | Boundary-scan / test / internal circuit / interconnect testing / Lobotomy problem / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 111, no. 435, DC2011-81, pp. 31-35, 2012年2月. | |
| 資料番号 | DC2011-81 | |
| 発行日 | 2012-02-06 (DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | DC2011-81 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
| 開催期間 | 2012-02-13 - 2012-02-13 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | VLSI設計とテストおよび一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2012-02-DC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | バウンダリスキャンテストにおける新たな課題 |
| サブタイトル（和） | 相互接続テスト中にIC内部で発生している問題の考察 |
| タイトル（英） | A new problem at Boundary-Scan testing |
| サブタイトル（英） | an internal disruption within IC during interconnect testing |
| キーワード(1)（和/英） | バウンダリスキャン / Boundary-scan |
| キーワード(2)（和/英） | テスト / test |
| キーワード(3)（和/英） | 内部回路 / internal circuit |
| キーワード(4)（和/英） | 相互接続テスト / interconnect testing |
| キーワード(5)（和/英） | ロボトミー問題 / Lobotomy problem |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 亀山 修一 / Shuichi Kameyama / カメヤマ シュウイチ |
| 第1著者 所属（和/英） | 富士通株式会社、愛媛大学 (略称： 富士通/愛媛大) Fujitsu Limited & Ehime University (略称： Fujitsu & Ehime Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 馬場 雅之 / Masayuki Baba / ババ マサユキ |
| 第2著者 所属（和/英） | 富士通株式会社 (略称： 富士通) Fujitsu Limited (略称： Fujitsu) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 樋上 喜信 / Yoshinobu Higami / ヒガミ ヨシノブ |
| 第3著者 所属（和/英） | 愛媛大学 (略称： 愛媛大) Ehime University (略称： Ehime Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 高橋 寛 / Hiroshi Takahashi / タカハシ ヒロシ |
| 第4著者 所属（和/英） | 愛媛大学 (略称： 愛媛大) Ehime University (略称： Ehime Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2012-02-13 14:00:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | DC2011-81 |
| 巻番号（vol） | vol.111 |
| 号番号（no） | no.435 |
| ページ範囲 | pp.31-35 |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | 2012-02-06 (DC) |
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