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| 講演名 | 2012-02-13 11:55 低電力BISTにおけるシフトトグル率低減手法について ○加藤隆明・王 森レイ・宮瀬紘平・佐藤康夫・梶原誠司（九工大/JST）  DC2011-80 |
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| 抄録 | （和） | スキャン設計を用いた組込み自己テスト(BIST)では，テスト時の高い電力消費が問題である．本研究では，スキャンBISTにおいてスキャンFFの値をシフトする時にトグルするFFの割合(シフトトグル率)を低減することにより，テスト時の消費電力を低減する手法を提案する．提案手法では，テスト発生器で発生した疑似ランダムテストパターンの反転確率を減らす低減回路を付加する．実験では，低減回路によって生成されたテストパターンのシフトトグル率と故障検出率の測定結果について調べ，その有効性を示す． |
| （英） | Logic BIST using scan design has a problem with high power dissipation during test. In this work we propose a method that reduces shift-toggle rate of scan flip-flops for low power testing of the scan-BIST. The proposed method adds an extra circuit for reduction of the signal transition probability of pseudo random test patterns generated by an LFSR. In the experiment, we show shift-toggle rate and fault coverage of the test patterns generated by the proposed method. | |
| キーワード | （和） | BIST / スキャンテスト / 低消費電力化 / スキャンシフト電力 / / / / |
| （英） | BIST / scan test / low power dissipation / scan shift power / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 111, no. 435, DC2011-80, pp. 25-29, 2012年2月. | |
| 資料番号 | DC2011-80 | |
| 発行日 | 2012-02-06 (DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | DC2011-80 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
| 開催期間 | 2012-02-13 - 2012-02-13 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | VLSI設計とテストおよび一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2012-02-DC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 低電力BISTにおけるシフトトグル率低減手法について |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A method to reduce shift-toggle rate for low power BIST |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | BIST / BIST |
| キーワード(2)（和/英） | スキャンテスト / scan test |
| キーワード(3)（和/英） | 低消費電力化 / low power dissipation |
| キーワード(4)（和/英） | スキャンシフト電力 / scan shift power |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 加藤 隆明 / Takaaki Kato / カトウ タカアキ |
| 第1著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大/JST) Kyushu Institute of Technology University University (略称： KIT) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 王 森レイ / Senling Wang / オウ シンレイ |
| 第2著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大/JST) Kyushu Institute of Technology University University (略称： KIT) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 宮瀬 紘平 / Kohei Miyase / ミヤセ コウヘイ |
| 第3著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大/JST) Kyushu Institute of Technology University University (略称： KIT) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 佐藤 康夫 / Yasuo Sato / サトウ ヤスオ |
| 第4著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大/JST) Kyushu Institute of Technology University University (略称： KIT) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 梶原 誠司 / Seiji Kajihara / カジハラ セイジ |
| 第5著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大/JST) Kyushu Institute of Technology University University (略称： KIT) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2012-02-13 11:55:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | DC2011-80 |
| 巻番号（vol） | vol.111 |
| 号番号（no） | no.435 |
| ページ範囲 | pp.25-29 |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | 2012-02-06 (DC) |
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