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講演抄録/キーワード
講演名 2012-03-03 14:30
パイプラインプロセッサ向けカスケードTMRにおける遺伝的アルゴリズムを用いた構成探索
新井雅之・○井出 創岩崎一彦首都大東京CPSY2011-94 DC2011-98
抄録 (和) 本稿では,半導体デバイスの量産初期段階の歩留り及び欠陥レベルの改善を目的として,パイプラインプロセッサのステージ毎にTMR(三重冗長構成)を適用する
手法について検討する.各ステージは,モジュール間の配線やボータ配置が異なる12通りの構造のうちいずれかを取るものとすると,nステージのパイプラインに対して12^n通りのパイプライン構成が考えられる.全ての構成に対して歩留り及び欠陥レベルを計算すると,計算量はステージ数によって指数関数的に増加する.そこで,メタヒューリスティクスの一つである遺伝的アルゴリズム(Genetic Algorithm: GA)を用いて構成探索を行う.プロセッサのステージ構造を染色体とみなし,良品1チップあたりの面積と欠陥レベルに基づく評価関数の値を最大化するような構成を探索をする. 
(英) In this paper we discuss on the application of TMR (Triple Modular Redundancy) to every stage of pipelined processors, aiming to improve yield and defect level at the beginning of mass production phase of a semiconductor device. Considering that a stage takes one of the possiible twelve pipeline arrangements in terms of wire and voter placements,
the number of possible configurations of the entire pipeline is 12^n, where n is the number of the stages. We then apply genetic algorithm, that is one of metaheuristics, to search appropriate stage arrangements.
Regarding stage structures of processors as a chromosome, We search the optimal stage arrangement which maximizes the evaluation function based on area per yield and defect level.
キーワード (和) カスケードTMR / 歩留り / 良品1チップあたりの面積 / 欠陥レベル / 遺伝的アルゴリズム / / /  
(英) cascaded TMR / yield / area per yield / defect level / genetic algorithm / / /  
文献情報 信学技報, vol. 111, no. 462, DC2011-98, pp. 211-217, 2012年3月.
資料番号 DC2011-98 
発行日 2012-02-24 (CPSY, DC) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード CPSY2011-94 DC2011-98

研究会情報
研究会 CPSY DC IPSJ-SLDM IPSJ-EMB  
開催期間 2012-03-02 - 2012-03-03 
開催地(和) ホテル松島大観荘 
開催地(英)  
テーマ(和) 組込み技術とネットワークに関するワークショップ ETNET2012 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 DC 
会議コード 2012-03-CPSY-DC-SLDM-EMB 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) パイプラインプロセッサ向けカスケードTMRにおける遺伝的アルゴリズムを用いた構成探索 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Structure Search of Cascaded TMR for Pipelined Processors Based on Genetic Algorithm 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) カスケードTMR / cascaded TMR  
キーワード(2)(和/英) 歩留り / yield  
キーワード(3)(和/英) 良品1チップあたりの面積 / area per yield  
キーワード(4)(和/英) 欠陥レベル / defect level  
キーワード(5)(和/英) 遺伝的アルゴリズム / genetic algorithm  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 新井 雅之 / Masayuki Arai / アライ マサユキ
第1著者 所属(和/英) 首都大学東京 (略称: 首都大東京)
Tokyo Metropolitan University (略称: Tokyo Metro. Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 井出 創 / Hajime Ide / イデ ハジメ
第2著者 所属(和/英) 首都大学東京 (略称: 首都大東京)
Tokyo Metropolitan University (略称: Tokyo Metro. Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 岩崎 一彦 / Kazuhiko Iwasaki / イワサキ カズヒコ
第3著者 所属(和/英) 首都大学東京 (略称: 首都大東京)
Tokyo Metropolitan University (略称: Tokyo Metro. Univ.)
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講演者 第2著者 
発表日時 2012-03-03 14:30:00 
発表時間 30分 
申込先研究会 DC 
資料番号 CPSY2011-94, DC2011-98 
巻番号(vol) vol.111 
号番号(no) no.461(CPSY), no.462(DC) 
ページ範囲 pp.211-217 
ページ数
発行日 2012-02-24 (CPSY, DC) 


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