ご案内 入会して研究会活動をもっとお得に!研究会参加費・年間登録費が会員価格になります。
お知らせ 【重要】研究会参加費の支払いおよび原稿アップロード手続きの変更に関するご案内
電子情報通信学会 研究会発表申込システム
講演論文 詳細
技報閲覧サービス
[ログイン]
技報アーカイブ
 トップに戻る 前のページに戻る   [Japanese] / [English] 

講演抄録/キーワード
講演名 2012-04-19 09:25
有機トランジスタにおける曲げ効果の評価
引地健太奥 慎也福田憲二郎熊木大介水上 誠時任静士山形大ED2012-12
抄録 (和) 曲げ変形による特性の変化に対して、トランジスタの構造がどのように影響を及ぼすのか調査するために、絶縁膜の膜厚とチャネル長を変化させ、曲げ変形を加えた状態で電気的特性を測定した。その結果、絶縁膜の膜厚を変化させた実験では、絶縁膜の膜厚を薄くすることで電流値の変化が大きくなり、絶縁膜の膜厚は電流変化率には依存していないことが明らかになった。チャネル長を変化させた実験では、チャネル長を短くすると電流値の変化が大きくなり、電流変化率も大きくなることが明らかになった。さらに、曲げ変形時のみ特性が変化し、元の形に戻すと特性が元に戻る可逆的な特性の変化が得られたことから、有機トランジスタの曲げセンサへの応用の可能性が示された。 
(英) We have fabricated the flexible organic thin-film transistor (OTFT) on plastic film, and have measured electrical properties under tensile strain while changing bending radius. The reversible variation was observed in the drain current before and after bending. With a decrease in the thickness of the gate insulator, the variation of the drain current of OTFT by bending was increased. The change rate of drain current didn’t depend on the thickness of gate insulator. With a decrease in the channel length, the variation of the drain current by bending was increased. We found that the sensitivity of OTFT for bending can be increased by employing a thin gate insulator and a short channel. The possibility for the sensor application of the OTFT was shown by this study.
キーワード (和) 有機トランジスタ / フレキシブル / 曲げ変形 / センサ / / / /  
(英) organic transistor / flexible / bending deformation / sensor / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 112, no. 5, ED2012-12, pp. 51-54, 2012年4月.
資料番号 ED2012-12 
発行日 2012-04-11 (ED) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード ED2012-12

研究会情報
研究会 ED  
開催期間 2012-04-18 - 2012-04-19 
開催地(和) 山形大学工学部 百周年記念会館大会議室 
開催地(英) Yamagata University 
テーマ(和) TFT(有機,酸化物),一般 
テーマ(英) TFT(organic matters, oxides), others 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 ED 
会議コード 2012-04-ED 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 有機トランジスタにおける曲げ効果の評価 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Evaluation of bending effects in flexible organic thin-film transistor 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 有機トランジスタ / organic transistor  
キーワード(2)(和/英) フレキシブル / flexible  
キーワード(3)(和/英) 曲げ変形 / bending deformation  
キーワード(4)(和/英) センサ / sensor  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 引地 健太 / Kenta Hikichi / ヒキチ ケンタ
第1著者 所属(和/英) 山形大学 (略称: 山形大)
Yamagata University (略称: Yamagata Univ)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 奥 慎也 / Shinya Oku / オク シンヤ
第2著者 所属(和/英) 山形大学 (略称: 山形大)
Yamagata University (略称: Yamagata Univ)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 福田 憲二郎 / Kenjiro Fukuda / フクダ ケンジロウ
第3著者 所属(和/英) 山形大学 (略称: 山形大)
Yamagata University (略称: Yamagata Univ)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 熊木 大介 / Daisuke Kumaki / クマキ ダイスケ
第4著者 所属(和/英) 山形大学 (略称: 山形大)
Yamagata University (略称: Yamagata Univ)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 水上 誠 / Makoto Mizukami / ミズカミ マコト
第5著者 所属(和/英) 山形大学 (略称: 山形大)
Yamagata University (略称: Yamagata Univ)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 時任 静士 / Shizuo Tokito / トキトウ シズオ
第6著者 所属(和/英) 山形大学 (略称: 山形大)
Yamagata University (略称: Yamagata Univ)
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第7著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第8著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第9著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第9著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第10著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第10著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第11著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第11著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第12著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第12著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第13著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第13著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第14著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第14著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第15著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第15著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第16著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第16著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第17著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第17著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第18著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第18著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第19著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第19著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第20著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第20著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第21著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第21著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第22著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第22著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第23著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第23著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第24著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第24著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第25著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第25著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第26著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第26著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第27著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第27著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第28著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第28著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第29著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第29著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第30著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第30著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第31著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第31著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第32著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第32著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第33著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第33著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第34著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第34著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第35著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第35著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第36著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第36著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
講演者 第1著者 
発表日時 2012-04-19 09:25:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 ED 
資料番号 ED2012-12 
巻番号(vol) vol.112 
号番号(no) no.5 
ページ範囲 pp.51-54 
ページ数
発行日 2012-04-11 (ED) 


[研究会発表申込システムのトップページに戻る]

[電子情報通信学会ホームページ]


IEICE / 電子情報通信学会