講演抄録/キーワード |
講演名 |
2012-04-23 15:10
[招待講演]SSDシステム信頼性 ~ 大容量記憶装置を半導体で実現する課題 ~ ○助川 博(東芝) ICD2012-4 エレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2012-4 |
抄録 |
(和) |
SSDの記憶容量が増えていくと言うことはSSD装置の内部に搭載されるメモリチップ内の総回路数が巨大化することであり、故障可能性がある箇所の母数が増えていくことになる。むろんブロックデバイス(セクター単位で読み書きをする装置)であるので訂正動作は可能であるが、それで単純にはカバーできない範囲もある。更に不揮発記憶装置として要求される特性もあり、単純な上書きは不可能であるフラッシュメモリの特性と相俟って確実なアドレス管理が要求される。 |
(英) |
The increase of SSD storage capacity accompanies the total amount of circuit number increase of the memory chips embedded inside of SSD. Because it is block device (sector unit Read/Write device), some level of error can be recovered, but some level of error cannot be simply recovered. And also SSD is a nonvolatile device, it reads out what has been recorded in past. The flash memory device is not able to be overwritten, so the secured address management implementation is required. |
キーワード |
(和) |
SSD / フラッシュメモリ / 記憶容量 / アドレス管理 / / / / |
(英) |
SSD / Flash Memory / Storage Capacity / Address Management / / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 112, no. 15, ICD2012-4, pp. 19-21, 2012年4月. |
資料番号 |
ICD2012-4 |
発行日 |
2012-04-16 (ICD) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
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