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講演抄録/キーワード
講演名 2012-08-01 10:30
部分的正規分布に基づくパタン類別法による入試採点誤り検出の検討
鈴木雅人北越大輔東京高専DE2012-17
抄録 (和) 入試における採点誤り検出を支援するシステムにおいて,受験者全員の解答画像から,誤答を精度よく検出する手法が求められている.パタン認識の手法は,ある字種と他の字種とを区別するために有効であるが,一般にパタンの特徴量は正規分布に従うことを前提にしていることが多い.そのため,解答画像の中に数多くの誤答が含まれている場合には,特徴量の分布が歪んでしまうため,正規分布を仮定することは難しい.そこで本稿では,正規分布を歪ませたような分布として,部分的正規分布を提案する.部分的正規分布の確率密度関数は,3次までの統計量を解析的に計算することができるため,与えられた標本から母集団分布を推定することが可能であり,推定された母集団分布をもとに仮説検定を行うことにより,逐次的に誤答の検出を行うことが可能である.疑似的に収集した答案データを用いて提案アルゴリズムの性能評価を行ったところ,誤答全体の95.8\%を検出することが可能であることがわかり,提案手法は,入試採点支援システムの誤り検出アルゴリズムとして,有効であることが確認できた. 
(英) A wrong answer detection algorithm with sufficient accuracy is required in the grading support system of entrance examination. A pattern recognition algorithm is effective for distinguishing a certain class from other classes, but it is premised that features extracted from character picture is following a normal distribution, in many cases. Therefore, it is difficult to assume a normal distribution as a distribution of characteristic features, because the distribution of them is distorted when wrong answers are contained. In this manuscript, we propose the asymmetric partial normal distribution, which made the normal distribution distorted. We can estimate the population distribution from samples, since the statistics value up to the third order can be solved analytically, in the asymmetric partial normal distribution. So, we can detect wrong answers successively with hypothesis testing based on the estimated population distribution. In experiments, we can detect 95.8\% of the whole wrong answer using our algorithm, and it is found that our algorithm is useful to detect wrong answers for grading support system of entrance examination.
キーワード (和) 部分的正規分布 / 入試採点支援 / 誤り検出 / / / / /  
(英) Asymmetric partial normal distribution / Grading support system of entrance examination / Error detection / / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 112, no. 172, DE2012-17, pp. 7-12, 2012年8月.
資料番号 DE2012-17 
発行日 2012-07-25 (DE) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード DE2012-17

研究会情報
研究会 DE  
開催期間 2012-08-01 - 2012-08-02 
開催地(和) 名古屋大学 
開催地(英) Nagoya University 
テーマ(和) ビックデータ工学および一般 
テーマ(英) Big Data Engineering, etc 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 DE 
会議コード 2012-08-DE 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 部分的正規分布に基づくパタン類別法による入試採点誤り検出の検討 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) A Study on Grading Error Detection of Entrance Examination based on the Pattern Categorization Using Asymmetric Partial Normal Distribution 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 部分的正規分布 / Asymmetric partial normal distribution  
キーワード(2)(和/英) 入試採点支援 / Grading support system of entrance examination  
キーワード(3)(和/英) 誤り検出 / Error detection  
キーワード(4)(和/英) /  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 鈴木 雅人 / Masato Suzuki / スズキ マサト
第1著者 所属(和/英) 東京工業高等専門学校 (略称: 東京高専)
Tokyo National College of Technology (略称: TNCT)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 北越 大輔 / Daisuke Kitakoshi / キタコシ ダイスケ
第2著者 所属(和/英) 東京工業高等専門学校 (略称: 東京高専)
Tokyo National College of Technology (略称: TNCT)
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講演者 第1著者 
発表日時 2012-08-01 10:30:00 
発表時間 30分 
申込先研究会 DE 
資料番号 DE2012-17 
巻番号(vol) vol.112 
号番号(no) no.172 
ページ範囲 pp.7-12 
ページ数
発行日 2012-07-25 (DE) 


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