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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2012-08-23 10:00 半導体レーザの周波数雑音特性を用いた物理乱数の生成 ～ 発振周波数安定化が物理乱数に及ぼす影響に関する考察 ～ ○齊藤高大・古川元一・新井秀明・佐藤 孝・坂本秀一・大河正志（新潟大）  R2012-21 EMD2012-27 CPM2012-52 OPE2012-59 LQE2012-25 エレソ技報アーカイブへのリンク：EMD2012-27 CPM2012-52 OPE2012-59 LQE2012-25 |
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| 抄録 | （和） | 半導体レーザは、キャリア密度の変動で利得や屈折率が変動し、単一縦モード発振中でも周波数雑音が発生する。我々はこの半導体レーザの周波数雑音を、周波数弁別器を用いて光強度雑音に変換し、更にA/Dで2進数にすることで、物理乱数の生成を行ってきた。しかし、半導体レーザの発振周波数が大きく変動すると、生成される乱数の乱数性が劣化する可能性がある。そのため、安定化半導体レーザによる物理乱数の乱数検定通過率を測定した。 |
| （英） | The frequency of a semiconductor laser fluctuates around its center optical frequency, owing to a refractive index variation resulting from carrier density fluctuations. By using the frequency discriminator, the frequency noise is converted into the intensity noise, then the amplitude is converted into binary numbers and produce the physical random number from it. But it may degrade its random number characteristic when its center oscillation frequency varies. Here we measure the examination pass rate of the generated binary numbers through this test. | |
| キーワード | （和） | 半導体レーザ / 周波数雑音 / 乱数生成 / 発振周波数安定化 / / / / |
| （英） | semiconductor laser / frequency noise / physical random number generation / stabilization of oscillation frequency / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 112, no. 184, LQE2012-25, pp. 5-8, 2012年8月. | |
| 資料番号 | LQE2012-25 | |
| 発行日 | 2012-08-16 (R, EMD, CPM, OPE, LQE) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | R2012-21 EMD2012-27 CPM2012-52 OPE2012-59 LQE2012-25 エレソ技報アーカイブへのリンク：EMD2012-27 CPM2012-52 OPE2012-59 LQE2012-25 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | LQE CPM EMD OPE R |
| 開催期間 | 2012-08-23 - 2012-08-24 |
| 開催地（和） | 東北大学電気通信研究所 |
| 開催地（英） | Tohoku Univ. |
| テーマ（和） | 光部品・電子デバイス実装技術・信頼性、及び一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | LQE |
| 会議コード | 2012-08-LQE-CPM-EMD-OPE-R |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 半導体レーザの周波数雑音特性を用いた物理乱数の生成 |
| サブタイトル（和） | 発振周波数安定化が物理乱数に及ぼす影響に関する考察 |
| タイトル（英） | Physical-random number generation using laser diode's noise characteristics |
| サブタイトル（英） | Consideration about the influence of laser diode's oscillation frequency stabilization |
| キーワード(1)（和/英） | 半導体レーザ / semiconductor laser |
| キーワード(2)（和/英） | 周波数雑音 / frequency noise |
| キーワード(3)（和/英） | 乱数生成 / physical random number generation |
| キーワード(4)（和/英） | 発振周波数安定化 / stabilization of oscillation frequency |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 齊藤 高大 / Takahiro Saito / サイトウ タカヒロ |
| 第1著者 所属（和/英） | 新潟大学 (略称： 新潟大) Niigata University (略称： Niigata Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 古川 元一 / Genichi Furukawa / フルカワ ゲンイチ |
| 第2著者 所属（和/英） | 新潟大学 (略称： 新潟大) Niigata University (略称： Niigata Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 新井 秀明 / Hideaki Arai / アライ ヒデアキ |
| 第3著者 所属（和/英） | 新潟大学 (略称： 新潟大) Niigata University (略称： Niigata Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 佐藤 孝 / Takashi Sato / サトウ タカシ |
| 第4著者 所属（和/英） | 新潟大学 (略称： 新潟大) Niigata University (略称： Niigata Univ.) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 坂本 秀一 / Shuichi Sakamoto / サカモト シュウイチ |
| 第5著者 所属（和/英） | 新潟大学 (略称： 新潟大) Niigata University (略称： Niigata Univ.) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） | 大河 正志 / Masashi Ohkawa / オオカワ マサシ |
| 第6著者 所属（和/英） | 新潟大学 (略称： 新潟大) Niigata University (略称： Niigata Univ.) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2012-08-23 10:00:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | LQE |
| 資料番号 | R2012-21, EMD2012-27, CPM2012-52, OPE2012-59, LQE2012-25 |
| 巻番号（vol） | vol.112 |
| 号番号（no） | no.180(R), no.181(EMD), no.182(CPM), no.183(OPE), no.184(LQE) |
| ページ範囲 | pp.5-8 |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | 2012-08-16 (R, EMD, CPM, OPE, LQE) |
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