講演抄録/キーワード |
講演名 |
2012-08-23 13:15
[特別招待講演]半導体発光デバイスの信頼性研究 ~ 総論と1990年代以降のトピックス ~ ○上田 修(金沢工大) R2012-26 EMD2012-32 CPM2012-57 OPE2012-64 LQE2012-30 エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2012-32 CPM2012-57 OPE2012-64 LQE2012-30 |
抄録 |
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文献情報 |
信学技報, vol. 112, no. 180, R2012-26, pp. 27-32, 2012年8月. |
資料番号 |
R2012-26 |
発行日 |
2012-08-16 (R, EMD, CPM, OPE, LQE) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
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R2012-26 EMD2012-32 CPM2012-57 OPE2012-64 LQE2012-30 エレソ技報アーカイブへのリンク:EMD2012-32 CPM2012-57 OPE2012-64 LQE2012-30 |
研究会情報 |
研究会 |
LQE CPM EMD OPE R |
開催期間 |
2012-08-23 - 2012-08-24 |
開催地(和) |
東北大学電気通信研究所 |
開催地(英) |
Tohoku Univ. |
テーマ(和) |
光部品・電子デバイス実装技術・信頼性、及び一般 |
テーマ(英) |
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講演論文情報の詳細 |
申込み研究会 |
R |
会議コード |
2012-08-LQE-CPM-EMD-OPE-R |
本文の言語 |
日本語 |
タイトル(和) |
半導体発光デバイスの信頼性研究 |
サブタイトル(和) |
総論と1990年代以降のトピックス |
タイトル(英) |
Study on Reliability of Semiconductor Optical Devices |
サブタイトル(英) |
General Remarks and Topics since the Early 1990s |
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) |
上田 修 / Osamu Ueda / ウエダ オサム |
第1著者 所属(和/英) |
金沢工業大学 (略称: 金沢工大)
Kanazawa Institute of Technology (略称: KIT) |
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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講演者 |
第1著者 |
発表日時 |
2012-08-23 13:15:00 |
発表時間 |
60分 |
申込先研究会 |
R |
資料番号 |
R2012-26, EMD2012-32, CPM2012-57, OPE2012-64, LQE2012-30 |
巻番号(vol) |
vol.112 |
号番号(no) |
no.180(R), no.181(EMD), no.182(CPM), no.183(OPE), no.184(LQE) |
ページ範囲 |
pp.27-32 |
ページ数 |
6 |
発行日 |
2012-08-16 (R, EMD, CPM, OPE, LQE) |
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