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講演抄録/キーワード
講演名 2012-09-19 15:05
FPGAシステムのソフトエラー耐性評価におけるブートストラップ法による高速化
高野光平一ノ宮佳裕尼崎太樹久我守弘飯田全広末吉敏則熊本大RECONF2012-45
抄録 (和) SRAM型FPGA (Field Programmable Gate Array) は高い柔軟性を持つ反面,ソフトエラーに対して脆弱であり,その影響で回路故障を引き起こす恐れがある.そのため,高い信頼性が要求されるシステムに適用するには,実装回路の信頼性を保証する信頼性評価技術が重要となる.現在の評価手法は,再構成を用いて構成メモリにビットエラーを注入し,その影響を観測する手法が一般的である.しかし,多くの研究ではソフトエラーの蓄積を考慮しておらず,故障緩和や動的復旧が可能な高信頼回路の評価に適していない.著者らは,ソフトエラーの蓄積を考慮した信頼性評価を目的とし,その際問題となる評価時間を短縮するためブートストラップ法を適用した.ブートストラップ法を適用することで,大幅な時間短縮が可能であり,また,十分な精度の結果を得ることができた. 
(英) SRAM-based field programmable gate arrays (FPGAs) are vulnerable to a single event upset (SEU). Although techniques for designing dependable circuits have been studied extensively. However, currently available evaluation techniques that can be used to check the dependability of these dependable circuit are inadequate. Current fault-injection(FI) analyses do not consider SEU accumulation, and hence, they are not suitable for evaluating a dependable circuit. In this paper, we propose an FI-based evaluation method to handle fault-accumulation. In order to achieve this evaluation result, we applied the bootstrap method. By applying the bootstrap method, we obtained the accurate result in a short evaluation time.
キーワード (和) ソフトエラー / SEU / フォルト注入解析 / ブートストラップ法 / 高信頼回路 / 部分再構成 / /  
(英) soft error / SEU / fault-injection analysis / bootstrap method / dependable circuit / partial reconfiguration / /  
文献情報 信学技報, vol. 112, no. 203, RECONF2012-45, pp. 125-130, 2012年9月.
資料番号 RECONF2012-45 
発行日 2012-09-11 (RECONF) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード RECONF2012-45

研究会情報
研究会 RECONF  
開催期間 2012-09-18 - 2012-09-19 
開催地(和) 立命館大学 びわこくさつキャンパス エポック立命21 
開催地(英) Epock Ritsumei 21, Ritsumeikan Univ. 
テーマ(和) リコンフィギャラブルシステム、一般 
テーマ(英) Reconfigurable Systems, etc. 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 RECONF 
会議コード 2012-09-RECONF 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) FPGAシステムのソフトエラー耐性評価におけるブートストラップ法による高速化 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Speedup of soft error tolerance evaluation with bootstrap method for FPGA systems 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) ソフトエラー / soft error  
キーワード(2)(和/英) SEU / SEU  
キーワード(3)(和/英) フォルト注入解析 / fault-injection analysis  
キーワード(4)(和/英) ブートストラップ法 / bootstrap method  
キーワード(5)(和/英) 高信頼回路 / dependable circuit  
キーワード(6)(和/英) 部分再構成 / partial reconfiguration  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 高野 光平 / Kohei Takano / タカノ コウヘイ
第1著者 所属(和/英) 熊本大学 (略称: 熊本大)
Kumamoto University (略称: Kumamoto Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 一ノ宮 佳裕 / Yoshihiro Ichinomiya / イチノミヤ ヨシヒロ
第2著者 所属(和/英) 熊本大学 (略称: 熊本大)
Kumamoto University (略称: Kumamoto Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 尼崎 太樹 / Motoki Amagasaki / アマガサキ モトキ
第3著者 所属(和/英) 熊本大学 (略称: 熊本大)
Kumamoto University (略称: Kumamoto Univ.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 久我 守弘 / Morihiro Kuga / クガ モリヒロ
第4著者 所属(和/英) 熊本大学 (略称: 熊本大)
Kumamoto University (略称: Kumamoto Univ.)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 飯田 全広 / Masahiro Iida / イイダ マサヒロ
第5著者 所属(和/英) 熊本大学 (略称: 熊本大)
Kumamoto University (略称: Kumamoto Univ.)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 末吉 敏則 / Toshinori Sueyoshi / スエヨシ トシノリ
第6著者 所属(和/英) 熊本大学 (略称: 熊本大)
Kumamoto University (略称: Kumamoto Univ.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2012-09-19 15:05:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 RECONF 
資料番号 RECONF2012-45 
巻番号(vol) vol.112 
号番号(no) no.203 
ページ範囲 pp.125-130 
ページ数
発行日 2012-09-11 (RECONF) 


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