| 電子情報通信学会 研究会発表申込システム 講演論文 詳細 |
技報閲覧サービス [ログイン] 技報アーカイブ |
| トップに戻る | 前のページに戻る | [Japanese] / [English] |
| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2012-10-19 09:00 サファイア円柱共振器を用いた銅張誘電体基板の比導電率測定 ○常光理志（埼玉大）・小林禧夫（サムテック）・馬 哲旺（埼玉大）  MW2012-97 |
|
| 抄録 | （和） | 2誘電体共振器法や1誘電体共振器2モード法は表面比導電率rfの測定法としてよく知られている。最近、我々は片面銅張誘電体基板の誘電体平板の厚さtが薄いとき、rf測定法を応用して界面比導電率rbをサファイア円柱共振器のTE011モードだけで簡易に測定する方法を提案した。本論文では、まずサファイア円柱共振器の複素比誘電率の周波数依存性を測定した結果について述べる。次に、tの異なる3種の基板のrbを簡易測定法により測定し、MIC形誘電体共振器法による測定値と比較してtに対する適用範囲を検討した。その結果、サファイア円柱の10%以内のtであれば本測定法は有効であることを実証した。 |
| （英） | The two rod resonator method and the one rod resonator method have been commonly used to measure the surface relative conductivity $\sigma$rf of conductor plates. Recently, we proposed a simple method to measure interface conductivity $\sigma$rb of single-sided copper-clad dielectric plate on condition that the thickness t of the dielectric substrate is thin, in which the TE011 mode is basically used in a sapphire rod resonator short-circuited by two conductor plates. This simple method is applied to measure method of $\sigma$rf. In this paper, first, we describe the measurements of frequency dependence of the complex permittivity of a sapphire rod resonator. Secondary, we measured $\sigma$rb of the substrate of three different t by simple method. Finally, the application range for t is examined by compared measurement values of the simple method and MIC dielectric resonator method. As a result, it was verified that this measurement method is applicable to less than 10% of thickness of the sapphire rod resonator. | |
| キーワード | （和） | 表面比導電率 / 界面比導電率 / マイクロ波測定 / サファイア円柱共振器 / / / / |
| （英） | surface conductivity / interface conductivity / microwave measurement / sapphire rod resonator / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 112, no. 251, MW2012-97, pp. 93-98, 2012年10月. | |
| 資料番号 | MW2012-97 | |
| 発行日 | 2012-10-11 (MW) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | MW2012-97 |
|
| 研究会情報 | |
| 研究会 | MW |
| 開催期間 | 2012-10-18 - 2012-10-19 |
| 開催地（和） | 宇都宮大学 |
| 開催地（英） | Utsunomiya Univ. |
| テーマ（和） | 学生研究会／マイクロ波一般 |
| テーマ（英） | Microwave Technologies |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | MW |
| 会議コード | 2012-10-MW |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | サファイア円柱共振器を用いた銅張誘電体基板の比導電率測定 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Relative conductivity measurements of a copper-clad dielectric substrate using a sapphire rod resonator |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 表面比導電率 / surface conductivity |
| キーワード(2)（和/英） | 界面比導電率 / interface conductivity |
| キーワード(3)（和/英） | マイクロ波測定 / microwave measurement |
| キーワード(4)（和/英） | サファイア円柱共振器 / sapphire rod resonator |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 常光 理志 / Masayuki Tsunemitsu / ツネミツ マサユキ |
| 第1著者 所属（和/英） | 埼玉大学 (略称： 埼玉大) Saitama University (略称： Saitama Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 小林 禧夫 / Yoshio Kobayashi / コバヤシ ヨシオ |
| 第2著者 所属（和/英） | サムテック(有) (略称： サムテック) SUMTEC ,Inc. (略称： SUMTEC ,Inc.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 馬 哲旺 / Zhewang Ma / マ テツオウ |
| 第3著者 所属（和/英） | 埼玉大学 (略称： 埼玉大) Saitama University (略称： Saitama Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2012-10-19 09:00:00 |
| 発表時間 | 20分 |
| 申込先研究会 | MW |
| 資料番号 | MW2012-97 |
| 巻番号（vol） | vol.112 |
| 号番号（no） | no.251 |
| ページ範囲 | pp.93-98 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2012-10-11 (MW) |
[研究会発表申込システムのトップページに戻る]