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講演抄録/キーワード
講演名 2012-11-27 13:25
耐過渡故障データパス合成における演算器バインディングのためのヒューリスティックアルゴリズム
中祖達也大窪涼子岩垣 剛市原英行井上智生広島市大VLD2012-84 DC2012-50
抄録 (和) LSIの高集積化,高速化,利用範囲の複雑化などの背景を受けて,放射線衝突が原因でLSI内部に発生する一時故障が問題となっている.さらに,この故障が原因で発生するソフトエラーが複数のサイクル(マルチサイクル)にわたって影響を及ぼす可能性も懸念されている.文献[7]では,マルチサイクルソフトエラーの検出/訂正が可能なデータパスの設計法が提案されている.本研究では,文献\cite{inoue}の設計法をもとに,スケジュール済みデータフローグラフ(SDFG)から必要となる演算器数の下界を求める方法を示し,これにもとづいて演算器バインディングを行うためのヒューリスティックアルゴリズムを提案する.提案するアルゴリズムは演算器数最小を目指すものであり,演算器数をできるだけ下界に近づけるように,同じ演算器を共有可能な演算対の選択を行う.ケーススタディは,提案アルゴリズムが小さいハードウェアオーバヘッドでソフトエラー検出/訂正可能なデータパスを合成できることを示す. 
(英) Due to the increase in the integration, operational speed and application complexity,
the tolerance for transient faults caused by particle strike, called SET (single event transient), becomes an important issue.
Furthermore, future technologies bring the possibility of occurrence of long duration errors spanning across multiple
cycles of the circuits due to particle strike.
A design of datapaths that can correct/detect transient errors including such multi-cycle soft errors has been proposed.
In this paper, based on the conditions of the datapath design, we derive a lower bound of the number of operational units
from scheduled dataflow graphs, and present a heuristic algorithm for operational unit binding.
The proposed heuristic algorithm aims at reduction in operational units by choosing a pair of sharable operational units
so as to minimize the difference between the lower bound and the number of resultant shared units.
Several case studies show that the proposed heuristic algorithm can realize transient error correctable and detectable
datapaths with small hardware overhead.
キーワード (和) 高位合成 / 演算器バインディング / 誤り検出/訂正 / 過渡故障 / / / /  
(英) High-level synthesis / operational unit binding / transient fault / error detection/correction / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 112, no. 321, DC2012-50, pp. 147-152, 2012年11月.
資料番号 DC2012-50 
発行日 2012-11-19 (VLD, DC) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード VLD2012-84 DC2012-50

研究会情報
研究会 VLD DC IPSJ-SLDM CPSY RECONF ICD CPM  
開催期間 2012-11-26 - 2012-11-28 
開催地(和) 九州大学百年講堂 
開催地(英) Centennial Hall Kyushu University School of Medicine 
テーマ(和) デザインガイア2012 -VLSI設計の新しい大地- 
テーマ(英) Design Gaia 2012 -New Field of VLSI Design- 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 DC 
会議コード 2012-11-VLD-DC-SLDM-CPSY-RECONF-ICD-CPM 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 耐過渡故障データパス合成における演算器バインディングのためのヒューリスティックアルゴリズム 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) A Heuristic Algorithm for Operational Unit Binding in Transient Fault Tolerant Datapath Synthesis 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 高位合成 / High-level synthesis  
キーワード(2)(和/英) 演算器バインディング / operational unit binding  
キーワード(3)(和/英) 誤り検出/訂正 / transient fault  
キーワード(4)(和/英) 過渡故障 / error detection/correction  
キーワード(5)(和/英) /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 中祖 達也 / Tatsuya Nakaso / ナカソ タツヤ
第1著者 所属(和/英) 広島市立大学 (略称: 広島市大)
Hiroshima City University (略称: Hiroshima City Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 大窪 涼子 / Ryoko Ohkubo / オオクボ リョウコ
第2著者 所属(和/英) 広島市立大学 (略称: 広島市大)
Hiroshima City University (略称: Hiroshima City Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 岩垣 剛 / Tsuyoshi Iwagaki / イワガキ ツヨシ
第3著者 所属(和/英) 広島市立大学 (略称: 広島市大)
Hiroshima City University (略称: Hiroshima City Univ.)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 市原 英行 / Hideyuki Ichihara / イチハラ ヒデユキ
第4著者 所属(和/英) 広島市立大学 (略称: 広島市大)
Hiroshima City University (略称: Hiroshima City Univ.)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 井上 智生 / Tomoo Inoue / イノウエ トモオ
第5著者 所属(和/英) 広島市立大学 (略称: 広島市大)
Hiroshima City University (略称: Hiroshima City Univ.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2012-11-27 13:25:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 DC 
資料番号 VLD2012-84, DC2012-50 
巻番号(vol) vol.112 
号番号(no) no.320(VLD), no.321(DC) 
ページ範囲 pp.147-152 
ページ数
発行日 2012-11-19 (VLD, DC) 


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