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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2012-11-27 13:00 解の再利用を用いたSATに基づくテスト生成におけるインスタンス順序と変数割当順序の決定法 ○上田健司・岩垣 剛・市原英行・井上智生（広島市大）  VLD2012-83 DC2012-49 |
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| 抄録 | （和） | 本稿では充足可能性問題（SAT）に基づくテスト生成問題を取り上げ， 解を再利用しながら複数のインスタンスを解く状況下での求解の効率について議論する． その効率に主に影響を与える3つの要素（1）インスタンス順序，（2）変数割当 て順序，（3）論理値割当てのうち前者2つに着目し，それらの効果的な決定法 を提案する．提案手法では，インスタンス順序を決定するために必要な類似度計算の 回数を閾値によって減らし，手法全体の処理時間の削減を行う．また，解の再利用の 履歴をリテラル単位で管理することによって変数割当て順序を決定し，解の探索効率を高める． 本研究では，予備実験結果により提案手法で必要なパラメータ設定の指針を導くとともに， そのパラメータ設定の下で従来手法との比較実験を行い提案手法の有効性を示す． |
| （英） | This report discusses the efficiency of iteratively solving various instances with solution reuse in test generation based on Boolean satisfiability (SAT). The efficiency is mainly affected by (1) instance ordering, (2) variable ordering and (3) logic value assignments. This work presents an effective method to determine two factors of (1) and (2). The proposed method aims at reducing the overall processing time by decreasing the number of similarity calculation, which is needed to determine an effective instance order, by means of a threshold value of similarity. The method also attempts to enhance the efficiency of searching solutions by determining an variable order with history of solution reuse in terms of literals. In this work, preliminary experiments are conducted to find out appropriate parameters used in the proposed method. Experimental results under the parameters show that the proposed method can outperform conventional methods. |
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| キーワード | （和） | テスト生成 / 充足可能性問題（SAT） / 解の再利用 / インスタンス順序 / 変数割当て順序 / / / |
| （英） | Test generation (ATPG) / Boolean satisfiability (SAT) / solution reuse / instance ordering / variable ordering / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 112, no. 321, DC2012-49, pp. 141-146, 2012年11月. | |
| 資料番号 | DC2012-49 | |
| 発行日 | 2012-11-19 (VLD, DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | VLD2012-83 DC2012-49 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD DC IPSJ-SLDM CPSY RECONF ICD CPM |
| 開催期間 | 2012-11-26 - 2012-11-28 |
| 開催地（和） | 九州大学百年講堂 |
| 開催地（英） | Centennial Hall Kyushu University School of Medicine |
| テーマ（和） | デザインガイア2012 -VLSI設計の新しい大地- |
| テーマ（英） | Design Gaia 2012 -New Field of VLSI Design- |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2012-11-VLD-DC-SLDM-CPSY-RECONF-ICD-CPM |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 解の再利用を用いたSATに基づくテスト生成におけるインスタンス順序と変数割当順序の決定法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Effective Orderings of Instances and Variable Assignments in SAT-based ATPG with Solution Reuse |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | テスト生成 / Test generation (ATPG) |
| キーワード(2)（和/英） | 充足可能性問題（SAT） / Boolean satisfiability (SAT) |
| キーワード(3)（和/英） | 解の再利用 / solution reuse |
| キーワード(4)（和/英） | インスタンス順序 / instance ordering |
| キーワード(5)（和/英） | 変数割当て順序 / variable ordering |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 上田 健司 / Kenji Ueda / ウエダ ケンジ |
| 第1著者 所属（和/英） | 広島市立大学 (略称： 広島市大) Hiroshima City University (略称： Hiroshima City Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 岩垣 剛 / Tsuyoshi Iwagaki / イワガキ ツヨシ |
| 第2著者 所属（和/英） | 広島市立大学 (略称： 広島市大) Hiroshima City University (略称： Hiroshima City Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 市原 英行 / Hideyuki Ichihara / イチハラ ヒデユキ |
| 第3著者 所属（和/英） | 広島市立大学 (略称： 広島市大) Hiroshima City University (略称： Hiroshima City Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 井上 智生 / Tomoo Inoue / イノウエ トモオ |
| 第4著者 所属（和/英） | 広島市立大学 (略称： 広島市大) Hiroshima City University (略称： Hiroshima City Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2012-11-27 13:00:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | VLD2012-83, DC2012-49 |
| 巻番号（vol） | vol.112 |
| 号番号（no） | no.320(VLD), no.321(DC) |
| ページ範囲 | pp.141-146 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2012-11-19 (VLD, DC) |
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