| 電子情報通信学会 研究会発表申込システム 講演論文 詳細 |
技報閲覧サービス [ログイン] 技報アーカイブ |
| トップに戻る | 前のページに戻る | [Japanese] / [English] |
| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2012-11-28 14:30 フィールドテストのための温度・電圧モニタ回路構成の検討 ○津森 渉・三宅庸資・佐藤康夫・梶原誠司（九工大）・三浦幸也（首都大東京）  VLD2012-101 DC2012-67 |
|
| 抄録 | （和） | システムの信頼性の確保のために，フィールドでのLSIの劣化による回路遅延の増加を，障害の発生する前に検知する必要がある．LSIの劣化は，フィールドでの回路の遅延値を繰り返し測定することで，検知が可能と考えられる．しかし測定される遅延値は，温度や電圧等のシステムの動作環境によって大きく変動するため，これらの環境要因による量を把握し，測定遅延値から劣化遅延成分のみを取り出す必要がある．この温度と電圧は，チップ内に配置した複数種類のリングオシレータの周波数から推定する方法が提案されている．本研究は，温度と電圧の推定精度向上のために，リングオシレータの回路構成と最適な組み合わせ方法を検討する． |
| （英） | For improving reliability of LSIs, the delay increase caused by aging during system operation should be detected before a system failure occurs. Such a delay increase can be detected by repeatedly measuring a circuit delay in field. However, the measured delay tends to vary a lot depending on temperature and voltage variations, therefore, it is necessary to get an accurate delay increase without these variations. A method has been proposed that estimates temperature and voltage from the frequencies of the multiple ring-oscillators on a chip. This paper tries to find the best configuration of the ring-oscillators in order to improve its estimation accuracy. | |
| キーワード | （和） | 遅延測定 / 劣化検知 / フィールドテスト / 温度・電圧モニタ / リングオシレータ / / / |
| （英） | Delay measurement / Aging / Field test / Temperature and Voltage monitor / Ring-Oscillator / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 112, no. 320, VLD2012-101, pp. 243-248, 2012年11月. | |
| 資料番号 | VLD2012-101 | |
| 発行日 | 2012-11-19 (VLD, DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | VLD2012-101 DC2012-67 |
|
| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD DC IPSJ-SLDM CPSY RECONF ICD CPM |
| 開催期間 | 2012-11-26 - 2012-11-28 |
| 開催地（和） | 九州大学百年講堂 |
| 開催地（英） | Centennial Hall Kyushu University School of Medicine |
| テーマ（和） | デザインガイア2012 -VLSI設計の新しい大地- |
| テーマ（英） | Design Gaia 2012 -New Field of VLSI Design- |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | VLD |
| 会議コード | 2012-11-VLD-DC-SLDM-CPSY-RECONF-ICD-CPM |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | フィールドテストのための温度・電圧モニタ回路構成の検討 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Design of temperature and voltage monitoring circuit structure for field test |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 遅延測定 / Delay measurement |
| キーワード(2)（和/英） | 劣化検知 / Aging |
| キーワード(3)（和/英） | フィールドテスト / Field test |
| キーワード(4)（和/英） | 温度・電圧モニタ / Temperature and Voltage monitor |
| キーワード(5)（和/英） | リングオシレータ / Ring-Oscillator |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 津森 渉 / Wataru Tsumori / ツモリ ワタル |
| 第1著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： KIT) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 三宅 庸資 / Yousuke Miyake / ミヤケ ヨウスケ |
| 第2著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： KIT) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 佐藤 康夫 / Yasuo Sato / サトウ ヤスオ |
| 第3著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： KIT) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 梶原 誠司 / Seiji Kajihara / カジハラ セイジ |
| 第4著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： KIT) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 三浦 幸也 / Yukiya Miura / |
| 第5著者 所属（和/英） | 首都大学東京 (略称： 首都大東京) Tokyo Metropolitan University (略称： TMU) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2012-11-28 14:30:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | VLD |
| 資料番号 | VLD2012-101, DC2012-67 |
| 巻番号（vol） | vol.112 |
| 号番号（no） | no.320(VLD), no.321(DC) |
| ページ範囲 | pp.243-248 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2012-11-19 (VLD, DC) |
[研究会発表申込システムのトップページに戻る]