| 電子情報通信学会 研究会発表申込システム 講演論文 詳細 |
技報閲覧サービス [ログイン] 技報アーカイブ |
| トップに戻る | 前のページに戻る | [Japanese] / [English] |
| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2012-11-28 14:30 動的部分再構成による故障回避に関する一考察 ○郡浦宏明（阪大）・今川隆司（京大）・密山幸男（高知工科大）・橋本昌宜・尾上孝雄（阪大）  RECONF2012-59 |
|
| 抄録 | （和） | 再構成可能デバイスの劣化故障に起因する恒久的エラーを回避する手法として，動的再構成機能を利用した部分配置配線による故障回避手法が提案されている．この故障回避手法により達成される寿命延長効果は，初期のアプリケーションマッピングや未使用構成要素の配置・数，部分配置配線アルゴリズムに依存する．本稿では，再構成可能デバイスの配置配線に広く用いられている VPR を基に故障回避シミュレーションを実行し，初期マッピングと寿命延長効果の関係を調査した．評価結果より，アプリケーションの規模が大きくなるにつれて任意の目標寿命を得るために必要な故障回避可能回数が増加することを示した．また，部分再構成の成功率を高めるため配線使用率を 35% 以下に抑える設計ガイドラインを示した． |
| （英） | Fault-avoidance methods using dynamic partial reconfiguration on reconfigurable devices are proposed for avoiding the emergence of permanent errors caused by aging. Life-time enhancement achieved by these methods depends on an initial mapping, the number and spatial distribution of unused basic elements, and an algorithm of partial placement and routing. In this work, we perform fault-avoidance simulation using VPR of the standard placement tool, and evaluate the relationship between mappings and life-time enhancement. Experimental results show as the application scale becomes larger, a large number of avoided faults becomes required. We also reveal that keeping wire utilization below 35% is helpful to raise success ratio of partial reconfiguration. | |
| キーワード | （和） | 故障回避 / 部分再構成 / MTTF (Mean Time To Failure) / / / / / |
| （英） | Fault-avoidance / Partial reconfiguration / MTTF (Mean Time To Failure) / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 112, no. 325, RECONF2012-59, pp. 71-76, 2012年11月. | |
| 資料番号 | RECONF2012-59 | |
| 発行日 | 2012-11-20 (RECONF) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | RECONF2012-59 |
|
| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD DC IPSJ-SLDM CPSY RECONF ICD CPM |
| 開催期間 | 2012-11-26 - 2012-11-28 |
| 開催地（和） | 九州大学百年講堂 |
| 開催地（英） | Centennial Hall Kyushu University School of Medicine |
| テーマ（和） | デザインガイア2012 -VLSI設計の新しい大地- |
| テーマ（英） | Design Gaia 2012 -New Field of VLSI Design- |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | RECONF |
| 会議コード | 2012-11-VLD-DC-SLDM-CPSY-RECONF-ICD-CPM |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 動的部分再構成による故障回避に関する一考察 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | An observational study on fault-avoidance methods using dynamic partial reconfiguration |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 故障回避 / Fault-avoidance |
| キーワード(2)（和/英） | 部分再構成 / Partial reconfiguration |
| キーワード(3)（和/英） | MTTF (Mean Time To Failure) / MTTF (Mean Time To Failure) |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 郡浦 宏明 / Hiroaki Konoura / コウノウラ ヒロアキ |
| 第1著者 所属（和/英） | 大阪大学 (略称： 阪大) Osaka University (略称： Osaka Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 今川 隆司 / Takashi Imagawa / イマガワ タカシ |
| 第2著者 所属（和/英） | 京都大学 (略称： 京大) Kyoto University (略称： Kyoto Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 密山 幸男 / Yukio Mitsuyama / ミツヤマ ユキオ |
| 第3著者 所属（和/英） | 高知工科大学 (略称： 高知工科大) Kochi University of Technology (略称： Kochi Univ. of Tech.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 橋本 昌宜 / Masanori Hashimoto / ハシモト マサノリ |
| 第4著者 所属（和/英） | 大阪大学 (略称： 阪大) Osaka University (略称： Osaka Univ.) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 尾上 孝雄 / Takao Onoye / オノエ タカオ |
| 第5著者 所属（和/英） | 大阪大学 (略称： 阪大) Osaka University (略称： Osaka Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2012-11-28 14:30:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | RECONF |
| 資料番号 | RECONF2012-59 |
| 巻番号（vol） | vol.112 |
| 号番号（no） | no.325 |
| ページ範囲 | pp.71-76 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2012-11-20 (RECONF) |
[研究会発表申込システムのトップページに戻る]