講演抄録/キーワード |
講演名 |
2012-12-07 10:15
塩素系ガスによるSiCのプラズマレス・エッチング ○畑山智亮・堀 良太・田村哲也・矢野裕司・冬木 隆(奈良先端大) SDM2012-116 エレソ技報アーカイブへのリンク:SDM2012-116 |
抄録 |
(和) |
900℃以上の塩素ガス雰囲気中でプラズマを使わずにSiCをエッチングした。Si原子で終端された(0001)Si面ではエッチピットが形成され、SiC中の不純物濃度に依存せず転位の種類を同定した。一方、C原子で終端された(000-1)C面はSiC結晶面の中でエッチング速度が最も速く、10μm/h以上を得た。プラズマレス工程で得られたSiC結晶面の電気特性を評価し、エッチング損傷がないことを明らかにした。 |
(英) |
Silicon carbide (SiC) could be etched by a plasmaless process in chlorine based ambient over 900oC. The etch pits were formed on the Si-terminated (0001) face. On the other hand, the etching rate of the C-terminated (000-1) face was fastest in all SiC crystal faces, which could be obtained over 10μm/h. To evaluate an etching damage, Schottky contacts were fabricated on the plasmaless etched surface, and a leakage current was low under the reverse bias condition. |
キーワード |
(和) |
炭化ケイ素 / エッチング / プラズマレス / 塩素 / 酸素 / 結晶面 / 電子線起電流 / 転位 |
(英) |
SiC / etching / plasmaless / chlorine / oxygen / crystal planes / EBIC / dislocation |
文献情報 |
信学技報, vol. 112, no. 337, SDM2012-116, pp. 7-12, 2012年12月. |
資料番号 |
SDM2012-116 |
発行日 |
2012-11-30 (SDM) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
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