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講演抄録/キーワード
講演名 2012-12-14 15:20
The bias of bit distribution issue in plain text archiving
Ahmed TallatHiroshi YasudaKilho ShinTokyo Denki Univ.IN2012-135
抄録 (和) (まだ登録されていません) 
(英) this paper proposes a distributed plain text archive scheme. The most interesting feature of it is that the bias of bits in original file disappears in archived file. In the proposed scheme, each piece of source file is archived into randomly chosen (n-k+1) storages out of n storage. Later, to be able to download from k storages is enough to recover original file, but even (k-1) storages are attacked, the stolen data cannot cover total amount of the file.
キーワード (和) ICT / Security / Data Backup / / / / /  
(英) / / / / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 112, no. 352, IN2012-135, pp. 79-84, 2012年12月.
資料番号 IN2012-135 
発行日 2012-12-06 (IN) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード IN2012-135

研究会情報
研究会 IN IA  
開催期間 2012-12-13 - 2012-12-14 
開催地(和) 広島市立大学 
開催地(英) Hiroshima City Univ. 
テーマ(和) インターネットやイントラネットの信頼性,品質,計測,監視, セキュリティ,トラヒック理論および一般 
テーマ(英) Internet and Intranet Reliability, Quality Controls, Measurement, Monitoring, Security, Traffic Theory, etc. 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 IN 
会議コード 2012-12-IN-IA 
本文の言語 英語 
タイトル(和)  
サブタイトル(和)  
タイトル(英) The bias of bit distribution issue in plain text archiving 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) ICT /  
キーワード(2)(和/英) Security /  
キーワード(3)(和/英) Data Backup /  
キーワード(4)(和/英) /  
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キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) アヒメット タラット / Ahmed Tallat /
第1著者 所属(和/英) 東京電機大学 (略称: 東京電機大)
Tokyo Denki University (略称: Tokyo Denki Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) Hiroshi Yasuda / Hiroshi Yasuda /
第2著者 所属(和/英) 東京電機大学 (略称: 東京電機大)
Tokyo Denki University (略称: Tokyo Denki Univ.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) Kilho Shin / Kilho Shin /
第3著者 所属(和/英) 東京電機大学 (略称: 東京電機大)
Tokyo Denki University (略称: Tokyo Denki Univ.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2012-12-14 15:20:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 IN 
資料番号 IN2012-135 
巻番号(vol) vol.112 
号番号(no) no.352 
ページ範囲 pp.79-84 
ページ数
発行日 2012-12-06 (IN) 


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