講演抄録/キーワード |
講演名 |
2012-12-18 10:55
[招待講演]ソフトエラー評価技術と対策技術 ○上村大樹(富士通セミコンダクター) ICD2012-116 エレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2012-116 |
抄録 |
(和) |
ソフトエラーとは一過性のエラーのことで、宇宙線起因の中性子線、IC材料中の放射性不純物起因のα線により発生する。近年微細化に伴いソフトエラーの重要性は高まってきている。本稿では、ソフトエラーに関する各種の評価と対策技術、それに加え大規模計算機向けデバイスにおけるソフトエラーの重要性をそれぞれ説明する。 |
(英) |
Soft-Error is transient error in electron devices. Soft-error is triggered by cosmic-ray induced neutrons and alpha rays from radioactive contaminants in IC material. The importance of soft-error increases with technology scaling in semiconductor devices. In this paper, we explain evaluation and mitigation technologies in soft-error and the importance of soft-error in high performance computing. |
キーワード |
(和) |
ソフトエラー / シングルイベント / 中性子 / スーパーコンピューター / α線 / / / |
(英) |
soft error / single event / neutron / super computer / alpha / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 112, no. 365, ICD2012-116, pp. 103-108, 2012年12月. |
資料番号 |
ICD2012-116 |
発行日 |
2012-12-10 (ICD) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
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