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講演抄録/キーワード
講演名 2012-12-18 10:55
[招待講演]ソフトエラー評価技術と対策技術
上村大樹富士通セミコンダクターICD2012-116 エレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2012-116
抄録 (和) ソフトエラーとは一過性のエラーのことで、宇宙線起因の中性子線、IC材料中の放射性不純物起因のα線により発生する。近年微細化に伴いソフトエラーの重要性は高まってきている。本稿では、ソフトエラーに関する各種の評価と対策技術、それに加え大規模計算機向けデバイスにおけるソフトエラーの重要性をそれぞれ説明する。 
(英) Soft-Error is transient error in electron devices. Soft-error is triggered by cosmic-ray induced neutrons and alpha rays from radioactive contaminants in IC material. The importance of soft-error increases with technology scaling in semiconductor devices. In this paper, we explain evaluation and mitigation technologies in soft-error and the importance of soft-error in high performance computing.
キーワード (和) ソフトエラー / シングルイベント / 中性子 / スーパーコンピューター / α線 / / /  
(英) soft error / single event / neutron / super computer / alpha / / /  
文献情報 信学技報, vol. 112, no. 365, ICD2012-116, pp. 103-108, 2012年12月.
資料番号 ICD2012-116 
発行日 2012-12-10 (ICD) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード ICD2012-116 エレソ技報アーカイブへのリンク:ICD2012-116

研究会情報
研究会 ICD  
開催期間 2012-12-17 - 2012-12-18 
開催地(和) 東工大蔵前会館 ロイアルブルーホール 
開催地(英) Tokyo Tech Front 
テーマ(和) 学生・若手研究会 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 ICD 
会議コード 2012-12-ICD 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) ソフトエラー評価技術と対策技術 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Soft-error evaluation and mitigation technologies 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) ソフトエラー / soft error  
キーワード(2)(和/英) シングルイベント / single event  
キーワード(3)(和/英) 中性子 / neutron  
キーワード(4)(和/英) スーパーコンピューター / super computer  
キーワード(5)(和/英) α線 / alpha  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 上村 大樹 / Taiki Uemura / ウエムラ タイキ
第1著者 所属(和/英) 富士通セミコンダクター株式会社 (略称: 富士通セミコンダクター)
Fujitsu Semiconductor Limited (略称: Fujitsu Semiconductor Ltd.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2012-12-18 10:55:00 
発表時間 50分 
申込先研究会 ICD 
資料番号 ICD2012-116 
巻番号(vol) vol.112 
号番号(no) no.365 
ページ範囲 pp.103-108 
ページ数
発行日 2012-12-10 (ICD) 


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