| 講演抄録/キーワード |
| 講演名 |
2012-12-18 14:10
レーザーテラヘルツエミッション顕微鏡を用いた太陽電池評価技術の開発 ○川山 巌(阪大)・中西英俊・伊藤 明(大日本スクリーン製造)・Salek Abu Khandoker・高山和久・村上博成・斗内政吉(阪大) ED2012-109 |
| 抄録 |
(和) |
レーザーテラヘルツエミッション顕微鏡技術(LTEM)は、試料の局所電流・電界および誘電分極構造などをイメージング・検査可能である。我々は LTEMを太陽電池特性の局所分析・評価に応用することを目指し、その有効性を検証している。今回、フェムト秒レーザーパルスを多結晶Si 太陽電池に照射し、同デバイスから放射されるテラヘルツ波を検出し、Si結晶のグレイン形状に対応したLTEMイメージング像の取得にも成功した。さらに、より通常の発電状態に近い条件として、CWレーザー照射下での計測も行い、そのテラヘルツ波強度の変化を可視可した。 |
| (英) |
arious proposals using THz Time-Domain Spectroscopy (THz-TDS) have been performed in the semiconductor research field. Laser Terahertz Emission Microscopy (LTEM) acquires an image of the THz emission on a sample by scanning it with femtosecond laser pulses. The distribution of local photoexcited current can be visualized. We report on the results of the detection of THz waves generated from the multicrystalline silicon solar cell excited by femtosecond laser pulses and imaging the amplitude of THz waves, which reflect the instantaneous and local electric power generation. Moreover, we observed the decrease of intensity of THz radiation by CW laser illumination. |
| キーワード |
(和) |
太陽電池 / テラヘルツ / イメージング / / / / / |
| (英) |
Solar cell / Terahertz / Imaging / / / / / |
| 文献情報 |
信学技報, vol. 112, no. 364, ED2012-109, pp. 89-92, 2012年12月. |
| 資料番号 |
ED2012-109 |
| 発行日 |
2012-12-10 (ED) |
| ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
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ED2012-109 |