講演抄録/キーワード |
講演名 |
2013-01-25 10:15
高耐圧パワーデバイス用スケールダウン・テストベッドの開発 ○松吉 峻(九工大)・附田正則(国際東アジア研究センター)・平井秀敏・大村一郎(九工大) EE2012-46 CPM2012-168 エレソ技報アーカイブへのリンク:CPM2012-168 |
抄録 |
(和) |
高耐圧パワーデバイス評価用テストベッドを開発した。本テストベッドは超低寄生インダクタンスを実現する専用デバイスパッケージとアルミブロック等により構成され、理想的なスイッチング特性評価を可能とした。本テストベッドをパワーデバイスの極限性能の見極め、コンパクトモデルの構築、ゲート駆動の高度化などで活用していく。 |
(英) |
The testbed for high voltage power device evaluation was developed. This testbed is constituted by special device package, aluminum block, etc., and realizes a super-low stray inductance. Moreover, ideal switching property evaluation became possible by using this testbed. This testbed is used for measurement of the ultimate performance of a power device, construction of a compact model and the advancement of the gate drive. |
キーワード |
(和) |
テストベッド / 圧接パッケージ / 高耐圧パワーデバイス / 寄生インダクタンス / 寄生容量 / / / |
(英) |
testbed / press-pack / high voltage power device / stray inductance / stray capacitance / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 112, no. 396, EE2012-46, pp. 105-109, 2013年1月. |
資料番号 |
EE2012-46 |
発行日 |
2013-01-17 (EE, CPM) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
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