| 研究会情報 |
| 研究会 |
DC |
| 開催期間 |
2013-02-13 - 2013-02-13 |
| 開催地(和) |
機械振興会館 |
| 開催地(英) |
Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ(和) |
VLSI設計とテストおよび一般 |
| テーマ(英) |
VLSI Design and Test, etc. |
| 講演論文情報の詳細 |
| 申込み研究会 |
DC |
| 会議コード |
2013-02-DC |
| 本文の言語 |
日本語 |
| タイトル(和) |
クリティカルエリア解析に基づく故障カバレージ見積りに関する一考察 |
| サブタイトル(和) |
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| タイトル(英) |
Note on Fault Coverage Estimation Using Critical Area Analysis |
| サブタイトル(英) |
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| キーワード(1)(和/英) |
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| キーワード(8)(和/英) |
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| 第1著者 氏名(和/英/ヨミ) |
清水 貴弘 / Yoshihiro Shimizu / シミズ ヨシヒロ |
| 第1著者 所属(和/英) |
首都大学東京 (略称: 首都大東京)
Tokyo Metropolitan University (略称: Tokyo Metro. Univ.) |
| 第2著者 氏名(和/英/ヨミ) |
中山 裕太 / Yuta Nakayama / ナカヤマ ユウタ |
| 第2著者 所属(和/英) |
首都大学東京 (略称: 首都大東京)
Tokyo Metropolitan University (略称: Tokyo Metro. Univ.) |
| 第3著者 氏名(和/英/ヨミ) |
新井 雅之 / Masayuki Arai / アライ マサユキ |
| 第3著者 所属(和/英) |
首都大学東京 (略称: 首都大東京)
Tokyo Metropolitan University (略称: Tokyo Metro. Univ.) |
| 第4著者 氏名(和/英/ヨミ) |
岩崎 一彦 / Kazuhiko Iwasaki / イワサキ カズヒコ |
| 第4著者 所属(和/英) |
首都大学東京 (略称: 首都大東京)
Tokyo Metropolitan University (略称: Tokyo Metro. Univ.) |
| 第5著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第6著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第7著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第8著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第9著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第10著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第26著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第28著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第29著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第30著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第31著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第32著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第33著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第34著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第35著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 第36著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 講演者 |
第1著者 |
| 発表日時 |
2013-02-13 11:10:00 |
| 発表時間 |
25分 |
| 申込先研究会 |
DC |
| 資料番号 |
DC2012-82 |
| 巻番号(vol) |
vol.112 |
| 号番号(no) |
no.429 |
| ページ範囲 |
pp.13-18 |
| ページ数 |
6 |
| 発行日 |
2013-02-06 (DC) |