| 講演抄録/キーワード |
| 講演名 |
2013-02-13 13:30
半断線故障検出のための信号遅延の特性評価 ○大栗裕人・四柳浩之・橋爪正樹(徳島大)・堤 利幸・山崎浩二(明大)・樋上善信・高橋 寛(愛媛大) DC2012-84 |
| 抄録 |
(和) |
半断線故障が発生すると,故障配線の信号遅延により回路性能が低下する場合がある. しかし,故障配線に信号遷移を与える検査入力を印加しても論理回路動作が正常となる場合もあり,半断線故障の検出は困難である. 本研究では,半断線故障の検出のために故障発生時の出力特性を電磁界シミュレーションを用いて調査した. 半断線故障発生時の出力信号へ影響を及ぼすと考えられる欠陥規模,隣接配線長および隣接配線への入力信号を考慮して,半断線故障を含む配線レイアウトを作成し,各要素が故障発生時の遅延時間に与える変化量を信号遅延解析結果より示す. |
| (英) |
When a resistive open fault occurs, signal delay at the faulty wire may degrade circuit performance. However, a resistive open fault is difficult to test since some test patterns does not cause logical errors at the faulty circuit even if the pattern provides a transition at the faulty wire. In this study, we investigate the output characteristic of wires with a open fault using electromagnetic simulator for detecting resistive open faults. We apply simulation for several layouts to estimate the delay caused by the defect size, the length of adjacent lines, and different combinations of input signals at the adjacent lines. The simulated results show the effects of these parameters on the signal delay. |
| キーワード |
(和) |
半断線故障 / 隣接配線 / 信号遅延 / / / / / |
| (英) |
resistive open fault / adjacent line / signal delay / / / / / |
| 文献情報 |
信学技報, vol. 112, no. 429, DC2012-84, pp. 25-30, 2013年2月. |
| 資料番号 |
DC2012-84 |
| 発行日 |
2013-02-06 (DC) |
| ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
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DC2012-84 |