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講演抄録/キーワード
講演名 2013-02-13 10:25
SATソルバを用いたテスト生成の高速化手法について
松永裕介九大DC2012-81
抄録 (和) SAT ソルバを用いてテスト生成を行なう場合,単純な方法では1 つの故障に対するテスト生成問題を1 つ
の充足可能性判定問題として表してSAT ソルバを起動する.本稿では複数の故障に対するテスト生成問題をいくつか
の制御変数を付加した1 つの充足可能性判定問題として表すことで,テスト生成全体にかかる計算時間の短縮を行な
う手法について述べる.いくつかの工夫を行なうことで,数倍から10 倍程度の高速化を達成している. 
(英) A naive way to solve ATPG problem using SAT solver is to formulate a test generation problem for a fault at a time.
This paper presents acceleration techniques to represent more than two test generation problems as one CNF with introducing
control variables. The experimental results show that the proposed techniques accelarate processing time by factor of 2 – 10.
キーワード (和) テストパタン生成問題 / 充足可能性判定問題 / / / / / /  
(英) Test Pattern Generation / SAT / / / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 112, no. 429, DC2012-81, pp. 7-12, 2013年2月.
資料番号 DC2012-81 
発行日 2013-02-06 (DC) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード DC2012-81

研究会情報
研究会 DC  
開催期間 2013-02-13 - 2013-02-13 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. 
テーマ(和) VLSI設計とテストおよび一般 
テーマ(英) VLSI Design and Test, etc. 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 DC 
会議コード 2013-02-DC 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) SATソルバを用いたテスト生成の高速化手法について 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Accelerating techniques for SAT-based test pattern generation 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) テストパタン生成問題 / Test Pattern Generation  
キーワード(2)(和/英) 充足可能性判定問題 / SAT  
キーワード(3)(和/英) /  
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キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 松永 裕介 / Yusuke Matsunaga / マツナガ ユウスケ
第1著者 所属(和/英) 九州大学 (略称: 九大)
Kyushu University (略称: Kyushu Univ.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2013-02-13 10:25:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 DC 
資料番号 DC2012-81 
巻番号(vol) vol.112 
号番号(no) no.429 
ページ範囲 pp.7-12 
ページ数
発行日 2013-02-06 (DC) 


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