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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2013-03-05 17:35 表面処理および腐食過程解析における表面測定技術 井上 塁・阿倍俊介・伊藤航平・砂原 祥・鈴木良治・廣畑洋平・○野田和彦（芝浦工大）  OME2012-104 |
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| 抄録 | （和） | 電析などの表面処理の成膜過程や表面反応により生じる腐食過程を解析するためには、多くの電気化学測定を適切かつ正確に適用する必要がある。本研究では、金属の電気めっき過程、合金系の溶解挙動、大気環境下腐食などを例に、一般的な電気化学測定、特殊な電気化学測定、水晶振動子微量天秤法、表面の電位分布測定などの測定・解析結果とその適用性・有効性を議論する。 |
| （英） | Suitable electrochemical measurement method is crucial to analyze film formation process in surface treatment such as electrodeposition and corrosion behavior in surface reaction.In this study, electrochemical process such as electrodeposition, alloy dissolution behavior, atmospheric corrosion by using Quarts Crystal Microbalance (QCM), surface potential distribution measurement, typical and atypical electrochemical measurement will be explained. Furthermore, the results of metal coating by electrodeposition, alloy dissolution behavior and atmospheric corrosion behavior analysis results will be used as base as this discussion. | |
| キーワード | （和） | 電気化学測定 / 水晶振動子微量天秤法 / ケルビン法 / / / / / |
| （英） | Electrochemical measurements / Quartz crystal microbalance / Kelvin method / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 112, no. 456, OME2012-104, pp. 61-65, 2013年3月. | |
| 資料番号 | OME2012-104 | |
| 発行日 | 2013-02-26 (OME) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | OME2012-104 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | OME |
| 開催期間 | 2013-03-05 - 2013-03-05 |
| 開催地（和） | 産総研九州センター |
| 開催地（英） | AIST Kyushu Center |
| テーマ（和） | バイオ、エレクトロニクス、材料、界面、その場観察、その他一般 |
| テーマ（英） | biotechnology, electronics, materials, interfaces, in situ observation, etc. |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | OME |
| 会議コード | 2013-03-OME |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 表面処理および腐食過程解析における表面測定技術 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Surface measurements for surface treatment and corrosion process |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 電気化学測定 / Electrochemical measurements |
| キーワード(2)（和/英） | 水晶振動子微量天秤法 / Quartz crystal microbalance |
| キーワード(3)（和/英） | ケルビン法 / Kelvin method |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 井上 塁 / Rui Inoue / イノウエ ルイ |
| 第1著者 所属（和/英） | 芝浦工業大学 (略称： 芝浦工大) Shibaura Institute of Technology (略称： Shibaura Inst. of Tech.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 阿倍 俊介 / Shunsuke Abe / アベ シュンスケ |
| 第2著者 所属（和/英） | 芝浦工業大学 (略称： 芝浦工大) Shibaura Institute of Technology (略称： Shibaura Inst. of Tech.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 伊藤 航平 / Kohei Ito / イトウ コウヘイ |
| 第3著者 所属（和/英） | 芝浦工業大学 (略称： 芝浦工大) Shibaura Institute of Technology (略称： Shibaura Inst. of Tech.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 砂原 祥 / Akira Sunahara / スナハラ アキラ |
| 第4著者 所属（和/英） | 芝浦工業大学 (略称： 芝浦工大) Shibaura Institute of Technology (略称： Shibaura Inst. of Tech.) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 鈴木 良治 / Ryouji Suzuki / スズキ リョウジ |
| 第5著者 所属（和/英） | 芝浦工業大学 (略称： 芝浦工大) Shibaura Institute of Technology (略称： Shibaura Inst. of Tech.) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） | 廣畑 洋平 / Youhei Hirohata / ヒロハタ ヨウヘイ |
| 第6著者 所属（和/英） | 芝浦工業大学 (略称： 芝浦工大) Shibaura Institute of Technology (略称： Shibaura Inst. of Tech.) |
| 第7著者 氏名（和/英/ヨミ） | 野田 和彦 / Kazuhiko Noda / ノダ カズヒコ |
| 第7著者 所属（和/英） | 芝浦工業大学 (略称： 芝浦工大) Shibaura Institute of Technology (略称： Shibaura Inst. of Tech.) |
| 講演者 | 第7著者 |
| 発表日時 | 2013-03-05 17:35:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | OME |
| 資料番号 | OME2012-104 |
| 巻番号（vol） | vol.112 |
| 号番号（no） | no.456 |
| ページ範囲 | pp.61-65 |
| ページ数 | 5 |
| 発行日 | 2013-02-26 (OME) |
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