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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2013-03-07 09:40 周波数領域における相関係数と凸関数をX線検査装置に使用した検査画像作成に関する研究 ○加藤洋一（愛知県立大）・谷嵜徹也（名古屋電機工業）・安川 博（愛知県立大）  SIS2012-45 |
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| 抄録 | （和） | X線検査装置は現在，基板実装部品のハンダ接合面検査で多く使用されている．特に2次元透過型X線検査装置は，LSIのBGA化により外観検査不可のハンダ接合面を非破壊で検査を可能にした．しかし，SNRを上げるために加算枚数を増やすことや，実装基板上に多数LSIが並ぶことにより，検査時間は増加の一途をたどった．そこで，実装基板について目標画像を予め作成しておき，検査対象画像と目標画像の空間周波数における相関をとることで，加算枚数を減らす画像処理手法を考察した． |
| （英） | X-ray inspection is frequently used to inspect the solder bonds of surface-mounted components. This is especially true for LSIs since visual examination is made impossible because the package covers the BGA. The inherent instability of X-ray inspection and the low SNR of the resulting images are commonly offset by averaging a number of images; unfortunately, this increases the time taken. Our solution is to use fewer inspection images but achieve acceptable image quality by correlating them to a reference image by an image processing technique in the frequency domain. | |
| キーワード | （和） | BGA / 学習データ / 相関係数 / 凸関数 / / / / |
| （英） | BGA / training data / correlation coefficient / convex function / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 112, no. 465, SIS2012-45, pp. 1-4, 2013年3月. | |
| 資料番号 | SIS2012-45 | |
| 発行日 | 2013-02-28 (SIS) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | SIS2012-45 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | SIS |
| 開催期間 | 2013-03-07 - 2013-03-08 |
| 開催地（和） | クリエート浜松 |
| 開催地（英） | Create Hamamatsu |
| テーマ（和） | ソフトコンピューティング，一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | SIS |
| 会議コード | 2013-03-SIS |
| 本文の言語 | 英語（日本語タイトルあり） |
| タイトル（和） | 周波数領域における相関係数と凸関数をX線検査装置に使用した検査画像作成に関する研究 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A study on test image production using frequency domain correlation with convex function for radiographic inspection equipments |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | BGA / BGA |
| キーワード(2)（和/英） | 学習データ / training data |
| キーワード(3)（和/英） | 相関係数 / correlation coefficient |
| キーワード(4)（和/英） | 凸関数 / convex function |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 加藤 洋一 / Yoichi Kato / カトウ ヨウイチ |
| 第1著者 所属（和/英） | 愛知県立大学 (略称： 愛知県立大) Aichi Prefectural University (略称： Aichi Prefectural Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 谷嵜 徹也 / Tetsuya Tanizaki / タニザキ テツヤ |
| 第2著者 所属（和/英） | 名古屋電機工業株式会社 (略称： 名古屋電機工業) Nagoya Electric Works Co., LTD. (略称： Nagoya Electric Works) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 安川 博 / Hiroshi Yasukawa / ヤスカワ ヒロシ |
| 第3著者 所属（和/英） | 愛知県立大学 (略称： 愛知県立大) Aichi Prefectural University (略称： Aichi Prefectural Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2013-03-07 09:40:00 |
| 発表時間 | 20分 |
| 申込先研究会 | SIS |
| 資料番号 | SIS2012-45 |
| 巻番号（vol） | vol.112 |
| 号番号（no） | no.465 |
| ページ範囲 | pp.1-4 |
| ページ数 | 4 |
| 発行日 | 2013-02-28 (SIS) |
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