講演抄録/キーワード |
講演名 |
2013-03-07 09:40
周波数領域における相関係数と凸関数をX線検査装置に使用した検査画像作成に関する研究 ○加藤洋一(愛知県立大)・谷嵜徹也(名古屋電機工業)・安川 博(愛知県立大) SIS2012-45 |
抄録 |
(和) |
X線検査装置は現在,基板実装部品のハンダ接合面検査で多く使用されている.特に2次元透過型X線検査装置は,LSIのBGA化により外観検査不可のハンダ接合面を非破壊で検査を可能にした.しかし,SNRを上げるために加算枚数を増やすことや,実装基板上に多数LSIが並ぶことにより,検査時間は増加の一途をたどった.そこで,実装基板について目標画像を予め作成しておき,検査対象画像と目標画像の空間周波数における相関をとることで,加算枚数を減らす画像処理手法を考察した. |
(英) |
X-ray inspection is frequently used to inspect the solder bonds of surface-mounted components. This is especially true for LSIs since visual examination is made impossible because the package covers the BGA. The inherent instability of X-ray inspection and the low SNR of the resulting images are commonly offset by averaging a number of images; unfortunately, this increases the time taken. Our solution is to use fewer inspection images but achieve acceptable image quality by correlating them to a reference image by an image processing technique in the frequency domain. |
キーワード |
(和) |
BGA / 学習データ / 相関係数 / 凸関数 / / / / |
(英) |
BGA / training data / correlation coefficient / convex function / / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 112, no. 465, SIS2012-45, pp. 1-4, 2013年3月. |
資料番号 |
SIS2012-45 |
発行日 |
2013-02-28 (SIS) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
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