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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2013-03-08 10:30 非加工接触型ICカードのレーザー照射によるフォールト攻撃 ○大野 仁・土屋 遊・遠山 毅・岸川 剛・齋藤翔平（横浜国大）・佐々木明彦（森田テック）・佐藤 証（東大）・松本 勉（横浜国大）  IT2012-93 ISEC2012-111 WBS2012-79 |
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| 抄録 | （和） | (まだ登録されていません) |
| （英） | (Not available yet) | |
| キーワード | （和） | / / / / / / / |
| （英） | / / / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 112, no. 461, ISEC2012-111, pp. 195-202, 2013年3月. | |
| 資料番号 | ISEC2012-111 | |
| 発行日 | 2013-02-28 (IT, ISEC, WBS) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | IT2012-93 ISEC2012-111 WBS2012-79 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | IT ISEC WBS |
| 開催期間 | 2013-03-07 - 2013-03-08 |
| 開催地（和） | 関西学院大学 大阪梅田キャンパス |
| 開催地（英） | Kwansei Gakuin Univ., Osaka-Umeda Campus |
| テーマ（和） | IT・ISEC・WBS合同研究会 |
| テーマ（英） | joint meeting of IT, ISEC, and WBS |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | ISEC |
| 会議コード | 2013-03-IT-ISEC-WBS |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 非加工接触型ICカードのレーザー照射によるフォールト攻撃 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Laser Fault Injection Attack on Non-Decapped Contact Smart Card |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | / |
| キーワード(2)（和/英） | / |
| キーワード(3)（和/英） | / |
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| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 大野 仁 / Hitoshi Ono / オオノ ヒトシ |
| 第1著者 所属（和/英） | 横浜国立大学 (略称： 横浜国大) Yokohama National University (略称： Yokohama National Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 土屋 遊 / Yuu Tsuchiya / ツチヤ ユウ |
| 第2著者 所属（和/英） | 横浜国立大学 (略称： 横浜国大) Yokohama National University (略称： Yokohama National Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 遠山 毅 / Tsuyoshi Toyama / トオヤマ ツヨシ |
| 第3著者 所属（和/英） | 横浜国立大学 (略称： 横浜国大) Yokohama National University (略称： Yokohama National Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 岸川 剛 / Takeshi Kishikawa / キシカワ タケシ |
| 第4著者 所属（和/英） | 横浜国立大学 (略称： 横浜国大) Yokohama National University (略称： Yokohama National Univ.) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 齋藤 翔平 / Shohei Saito / サイトウ ショウヘイ |
| 第5著者 所属（和/英） | 横浜国立大学 (略称： 横浜国大) Yokohama National University (略称： Yokohama National Univ.) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） | 佐々木 明彦 / Akihiko Sasaki / ササキ アキヒコ |
| 第6著者 所属（和/英） | 森田テック株式会社 (略称： 森田テック) MORITA TECH CO.,LTD. (略称： MORITA TECH) |
| 第7著者 氏名（和/英/ヨミ） | 佐藤 証 / Akashi Satoh / サトウ アカシ |
| 第7著者 所属（和/英） | 東京大学 (略称： 東大) University of Tokyo (略称： Univ. of Tokyo) |
| 第8著者 氏名（和/英/ヨミ） | 松本 勉 / Tsutomu Matsumoto / マツモト ツトム |
| 第8著者 所属（和/英） | 横浜国立大学 (略称： 横浜国大) Yokohama National University (略称： Yokohama National Univ.) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2013-03-08 10:30:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | ISEC |
| 資料番号 | IT2012-93, ISEC2012-111, WBS2012-79 |
| 巻番号（vol） | vol.112 |
| 号番号（no） | no.460(IT), no.461(ISEC), no.462(WBS) |
| ページ範囲 | pp.195-202 |
| ページ数 | 8 |
| 発行日 | 2013-02-28 (IT, ISEC, WBS) |
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