| 講演抄録/キーワード |
| 講演名 |
2013-05-16 13:30
反応性SAMを用いたITO/高分子薄膜界面の制御 金 性湖・大塚華恵・田中邦明(東京農工大)・R. C. アドビンクラ(ケースウェスタン)・○臼井博明(東京農工大) OME2013-23 |
| 抄録 |
(和) |
有機電子デバイスでは,無機電極と有機薄膜界面の特性を制御することが重要な課題の一つとなる.そこで末端に反応性官能基としてベンゾフェノン(BP)を持つ自己組織化膜(SAM)を酸化インジウムスズ(ITO)電極に形成し,その表面に正孔輸送層としてフルオレン-フェノキサジン共重合体(H5)をスピンコートした後,紫外光(UV)を照射することにより,界面に安定な共有結合を形成した.その結果,界面に安定に固定された厚さ約6 nmのH5層が形成されることが見出された.このようにして界面に共有結合を形成することにより,ITOからH5への正孔注入が促進された.この手法を有機エレクトロニクスルミネセンス(EL)素子の形成に応用することで,発光特性を改善できる可能性が示された. |
| (英) |
The interface between an inorganic electrode and an organic layer plays an important role in determining performances of organic electronic devices. In this work, a reactive self-assembled monolayer (SAM) having benzophenone (BP) terminal was prepared on an indium-tin oxide (ITO) electrode, on which a hole-transport layer of a fluorene-phenoxazine copolymer (H5) was prepared by spin-coating. Subsequent UV irradiation caused to form stable covalent bonds at the interface. It was found that a 6-nm-thick interfacial layer of H5 was stably tethered to the ITO surface. The formation of covalent bonds at the interface contributed to enhance hole injection from ITO to H5 layer. This technique was applied for preparing an organic light emitting diode (OLED), resulting in an improvement of luminescence by covalently tethering the interface between ITO and H5 hole-transport layer. |
| キーワード |
(和) |
自己組織化膜 / SAM / 界面制御 / ITO / 正孔輸送層 / 有機EL / / |
| (英) |
self-assembled monolayer / SAM / interface control / ITO / hole-transport layer / OLED / / |
| 文献情報 |
信学技報, vol. 113, no. 42, OME2013-23, pp. 1-5, 2013年5月. |
| 資料番号 |
OME2013-23 |
| 発行日 |
2013-05-09 (OME) |
| ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
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