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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2013-06-21 13:45 データパス回路の機能的k時間展開モデル生成のためのコントローラ拡大法 ○兒玉雄佑・西間木 淳・増田哲也・細川利典（日大）・藤原秀雄（阪学院大）  DC2013-10 |
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| 抄録 | （和） | 近年，LSIの設計生産性の向上とテストコスト削減のため，動作合成においてデータパスのテスト容易化合成が提案されている．提案手法の多くは，コントローラをスキャン設計するなどして，データパスとコントローラを分離して，データパスのテストを行うため，ハードウェアオーバヘッドが大きくなるという欠点がある．一方，データパスとコントローラを分離しない場合，高い故障検出率を達成するのは困難である．この問題を解決するため，データパスのテスト容易な構造に基づいてデータパスを動作させる制御機能をコントローラに付加する拡大法が提案されている．しかしながら，通常の順序回路のテスト生成法を用いた場合，テスト容易化設計の意図通りにテスト生成されず高い故障検出率を達成するのは困難となる．本論文では，データパス回路の”テスト容易化機能的k時間展開モデル”を導入し，コントローラの機能動作とデータパスのテスト容易な構造からデータパス回路のテスト容易化機能的k時間展開モデルを生成するためのコントローラ拡大法を提案する。実験により提案手法の有効性を示す |
| （英） | In recent years, various high-level test synthesis methods for LSIs have been proposed for the improvement in design productivity and test cost reduction. Most of the approaches are to separate a controller and a data path by using scan design, and hence the hardware overhead becomes large. On the other hand, the approach without separation of a controller and a data path usually degrades the testability. To resolve this problem, an approach that augments a controller by adding extra control functions to make a data path easily testable was proposed. However, the approach cannot always succeed in generating test sequences with high fault coverage if a general ATPG tool is used without knowing any information of augmented control functions. In this paper, we introduce “easily testable functional k-time expansion models for data paths” and propose a method for augmenting a controller such that easily testable functional k-time expansion models for the data path are generated. Experimental results show the effectiveness of the proposed method. | |
| キーワード | （和） | 非スキャンテスト / テスト容易化機能的k時間展開モデル / コントローラ拡大 / 順序テスト生成 / / / / |
| （英） | non-scan testing / easily testable functional k-time expansion models / controller augmentation / sequential test generation / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 113, no. 104, DC2013-10, pp. 1-6, 2013年6月. | |
| 資料番号 | DC2013-10 | |
| 発行日 | 2013-06-14 (DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | DC2013-10 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
| 開催期間 | 2013-06-21 - 2013-06-21 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | 設計／テスト／検証 |
| テーマ（英） | Design, Test, Verification |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2013-06-DC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | データパス回路の機能的k時間展開モデル生成のためのコントローラ拡大法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Controller Augmentation Method to Generate Functional k-Time Expansion Models for Data Path Circuits |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 非スキャンテスト / non-scan testing |
| キーワード(2)（和/英） | テスト容易化機能的k時間展開モデル / easily testable functional k-time expansion models |
| キーワード(3)（和/英） | コントローラ拡大 / controller augmentation |
| キーワード(4)（和/英） | 順序テスト生成 / sequential test generation |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 兒玉 雄佑 / Yusuke Kodama / コダマ ユウスケ |
| 第1著者 所属（和/英） | 日本大学 (略称： 日大) Nihon University (略称： Nihon Univ) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 西間木 淳 / Jun Nishimaki / ニシマキ ジュン |
| 第2著者 所属（和/英） | 日本大学 (略称： 日大) Nihon University (略称： Nihon Univ) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 増田 哲也 / Tetsuya Masuda / マスダ テツヤ |
| 第3著者 所属（和/英） | 日本大学 (略称： 日大) Nihon University (略称： Nihon Univ) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 細川 利典 / Toshinori Hosokawa / ホソカワ トシノリ |
| 第4著者 所属（和/英） | 日本大学 (略称： 日大) Nihon University (略称： Nihon Univ) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 藤原 秀雄 / Hideo Fujiwara / フジワラ ヒデオ |
| 第5著者 所属（和/英） | 大阪学院大学 (略称： 阪学院大) Osaka Gakuin University (略称： Osaka Gakuin Univ) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2013-06-21 13:45:00 |
| 発表時間 | 30分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | DC2013-10 |
| 巻番号（vol） | vol.113 |
| 号番号（no） | no.104 |
| ページ範囲 | pp.1-6 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2013-06-14 (DC) |
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