| 電子情報通信学会 研究会発表申込システム 講演論文 詳細 |
技報閲覧サービス [ログイン] 技報アーカイブ |
| トップに戻る | 前のページに戻る | [Japanese] / [English] |
| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2013-06-21 14:15 制約付きテスト生成を用いたスキャンBISTのLFSRシード生成法 ○森保孝憲・大竹哲史（大分大）  DC2013-11 |
|
| 抄録 | （和） | 本稿では，LFSRを用いたスキャンBISTのリシード向けの新しいLFSRシード生成法を提案する．従来のシード生成法は，テスト対象故障に対してまずスキャンテストパターンを求め，それをLFSRのシードに変換するという方法であった．しかし，この方法ではスキャンテストパターンがシードに変換できる保証はなく，対象故障を検出できない場合があるといった問題があった．提案手法では，LFSRの構造を時間的に展開することでスキャンテストパターンをシードの関数として表現できることに着目し，これをテスト生成の際に制約として用いることで直接シードを求める．具体的には，その関数を表現する組合せ回路を設計し，それをシード生成対象回路に疑似的に接続し，対象故障に対してテスト生成することで直接シードを生成する．本稿ではさらに，ITC'99ベンチマーク回路を用いた実験により，提案手法の有効性を示す． |
| （英） | This paper proposes a method of LFSR seed generation for LFSR reseeding of scan-based BIST of VLSI circuits. So far, a scan test pattern detecting some fault is first generated using an ATPG tool and the generated pattern is then converted into a seed. However, the conversion does not always succeed and the fault may not be detected. For a given circuit with scan-based BIST, the proposed method first creates a seed generation model for the circuit. The seed generation model consists of the combinational part of the circuit and the XOR network representing the logic functions of LFSR seed variables for scan flip-flops. LFSR seeds for faults are then generated as test patterns of the seed generation model by using an ATPG tool. In this paper, the effectiveness of the proposed method is shown by experiments using ITC'99 benchmark circuits. | |
| キーワード | （和） | スキャンBIST / LFSR / リシード / シード生成 / テスト生成制約 / / / |
| （英） | Scan-based BIST / LFSR / reseeding / seed generation / test generation constraint / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 113, no. 104, DC2013-11, pp. 7-12, 2013年6月. | |
| 資料番号 | DC2013-11 | |
| 発行日 | 2013-06-14 (DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | DC2013-11 |
|
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
| 開催期間 | 2013-06-21 - 2013-06-21 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | 設計／テスト／検証 |
| テーマ（英） | Design, Test, Verification |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2013-06-DC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 制約付きテスト生成を用いたスキャンBISTのLFSRシード生成法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A method of deterministic LFSR seed generation for scan-based BIST |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | スキャンBIST / Scan-based BIST |
| キーワード(2)（和/英） | LFSR / LFSR |
| キーワード(3)（和/英） | リシード / reseeding |
| キーワード(4)（和/英） | シード生成 / seed generation |
| キーワード(5)（和/英） | テスト生成制約 / test generation constraint |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 森保 孝憲 / Takanori Moriyasu / モリヤス タカノリ |
| 第1著者 所属（和/英） | 大分大学 (略称： 大分大) Oita University (略称： Oita Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 大竹 哲史 / Satoshi Ohtake / オオタケ サトシ |
| 第2著者 所属（和/英） | 大分大学 (略称： 大分大) Oita University (略称： Oita Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2013-06-21 14:15:00 |
| 発表時間 | 30分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | DC2013-11 |
| 巻番号（vol） | vol.113 |
| 号番号（no） | no.104 |
| ページ範囲 | pp.7-12 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2013-06-14 (DC) |
[研究会発表申込システムのトップページに戻る]