お知らせ 2023年度・2024年度 学生員 会費割引キャンペーン実施中です
お知らせ 技術研究報告と和文論文誌Cの同時投稿施策(掲載料1割引き)について
お知らせ 電子情報通信学会における研究会開催について
お知らせ NEW 参加費の返金について
電子情報通信学会 研究会発表申込システム
講演論文 詳細
技報閲覧サービス
[ログイン]
技報アーカイブ
 トップに戻る 前のページに戻る   [Japanese] / [English] 

講演抄録/キーワード
講演名 2013-06-27 11:00
光電界センサの安定性向上
鳥羽良和一條 淳精工技研)・森岡健浩黒川 悟産総研
抄録 (和) ニオブ酸リチウム(LiNbO3:LN)のポッケルス効果を用いた反射型光電界センサの出力変動要因について検討をおこなった。その結果、センサ出力の安定性を阻害する要因は、フォトダイオードへの光入力強度の他に、光サーキュレータのクロストーク性能に起因する光干渉によるものであることが判明した。これら変動要因の改善によりセンサ出力変動を0.009dBと極めて小さく抑えることに成功した。これによりセンサに起因する不確かさの著しい改善が期待される。 
(英) We studied the factors of output-power fluctuation of the optical E-field sensor using LN optical modulator.
As a result, the output-power fluctuation factors are optical interference due to the cross talk of the optical circulator in
addition to input optical power of the photodiode.
Improving the factors, this sensor obtained excellent performance of output-power fluctuation of 0.009dB.
Uncertainty in E-field measurement using optical E-field sensor will be improved by it.
キーワード (和) 標準電界 / 光電界センサ / 光源 / 光サーキュレータ / 光干渉 / / /  
(英) Standard E-filed / optical E-field sensor / optical source / optical circulator / optical interference / / /  
文献情報 信学技報
資料番号  
発行日  
ISSN  
PDFダウンロード

研究会情報
研究会 PEM  
開催期間 2013-06-27 - 2013-06-28 
開催地(和) 北海道大学 
開催地(英) Hokkaido Univ. 
テーマ(和) 光電界センサの基礎と最新技術動向 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 PEM 
会議コード 2013-06-PEM 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 光電界センサの安定性向上 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Improvement of output stability of the optical E-field sensor 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 標準電界 / Standard E-filed  
キーワード(2)(和/英) 光電界センサ / optical E-field sensor  
キーワード(3)(和/英) 光源 / optical source  
キーワード(4)(和/英) 光サーキュレータ / optical circulator  
キーワード(5)(和/英) 光干渉 / optical interference  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 鳥羽 良和 / Yoshikazu Toba / トバ ヨシカズ
第1著者 所属(和/英) 株式会社精工技研 (略称: 精工技研)
SEIKO GIKEN Co., Ltd. (略称: SEIKO GIKEN)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 一條 淳 / Jun Ichijo / イチジョウ ジュン
第2著者 所属(和/英) 株式会社精工技研 (略称: 精工技研)
SEIKO GIKEN Co., Ltd. (略称: SEIKO GIKEN)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 森岡 健浩 / Takehiro Morioka / モリオカ タケヒロ
第3著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所 (略称: 産総研)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称: AIST)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 黒川 悟 / Satoru Kurokawa /
第4著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所 (略称: 産総研)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称: AIST)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第5著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第6著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第7著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第8著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第9著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第9著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第10著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第10著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第11著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第11著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第12著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第12著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第13著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第13著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第14著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第14著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第15著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第15著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第16著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第16著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第17著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第17著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第18著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第18著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第19著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第19著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第20著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第20著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
講演者 第1著者 
発表日時 2013-06-27 11:00:00 
発表時間 30分 
申込先研究会 PEM 
資料番号  
巻番号(vol) vol. 
号番号(no)  
ページ範囲  
ページ数  
発行日  


[研究会発表申込システムのトップページに戻る]

[電子情報通信学会ホームページ]


IEICE / 電子情報通信学会