| 講演抄録/キーワード |
| 講演名 |
2013-07-22 13:30
集積型量子雑音電圧源のスペクトル密度の計算 ○前澤正明・山田隆宏・浦野千春(産総研) SCE2013-16 |
| 抄録 |
(和) |
ジョンソン雑音温度計(JNT)の校正に用いる量子雑音電圧源(QVNS)の新方式を提案する.従来のQVNSでは,高周波機器間のクロストークが,出力波形精度を劣化させ,JNT測定精度を制限する要因になっている.また,擬似乱数コード生成・検証に要する膨大な計算量や高額高周波機器によるシステムコスト増加などの問題がある.QVNSを超伝導集積回路技術により1チップで実現する集積型QVNS(IQVNS)を提案し,設計概念,動作原理を述べる.単一磁束量子回路(RSFQ)に基づいて設計したIQVNSの出力電圧のパワースペクトル密度を計算した結果,水の三重点のJNT測定に応用可能な擬似白色雑音を生成できることがわかった.IQVNSを用いたJNTシステムは,ボルツマン定数再定義後の温度定義定点再評価などへの応用が期待される. |
| (英) |
A new implementation of quantum voltage noise source (QVNS), integrated QVNS (IQVNS), for Johnson noise thermometry (JNT) is proposed. The concept is integration of all the QVNS subsystems on a superconducting integrated circuit chip, eliminating degradation of output voltage accuracy caused by crosstalk. On-chip, real-time pseudo-noise generation with IQVNS omits expensive microwave electronics and costly code calculations. We have designed an IQVNS chip consisting of rapid single flux quantum circuitry. Simulation shows that pseudo-white noise voltages generated by IQVNS are suitable for JNT measurements. A promising application of the JNT with IQVNS is re-evaluation of the temperature fixed points after the redefinition of Boltzmann’s constant. |
| キーワード |
(和) |
雑音温度計 / 温度計測 / 温度標準 / 雑音標準 / ジョセフソン接合 / 超伝導集積回路 / / |
| (英) |
Noise Thermometry / Thermal Metrology / Temperature Standard / Noise Standard / Josephson Junction / Superconducting Integrated Circuit / / |
| 文献情報 |
信学技報, vol. 113, no. 149, SCE2013-16, pp. 33-38, 2013年7月. |
| 資料番号 |
SCE2013-16 |
| 発行日 |
2013-07-15 (SCE) |
| ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
| PDFダウンロード |
SCE2013-16 |
| 研究会情報 |
| 研究会 |
SCE |
| 開催期間 |
2013-07-22 - 2013-07-22 |
| 開催地(和) |
機械振興会館地下3階2号室 |
| 開催地(英) |
Kikaishinkou-kaikan Bldg. |
| テーマ(和) |
信号処理基盤技術及びその応用、一般 |
| テーマ(英) |
Signal processing technologies and their applications, etc. |
| 講演論文情報の詳細 |
| 申込み研究会 |
SCE |
| 会議コード |
2013-07-SCE |
| 本文の言語 |
日本語 |
| タイトル(和) |
集積型量子雑音電圧源のスペクトル密度の計算 |
| サブタイトル(和) |
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| タイトル(英) |
Power Spectrum Density Calculation for Integrated Quantum Voltage Noise Source |
| サブタイトル(英) |
|
| キーワード(1)(和/英) |
雑音温度計 / Noise Thermometry |
| キーワード(2)(和/英) |
温度計測 / Thermal Metrology |
| キーワード(3)(和/英) |
温度標準 / Temperature Standard |
| キーワード(4)(和/英) |
雑音標準 / Noise Standard |
| キーワード(5)(和/英) |
ジョセフソン接合 / Josephson Junction |
| キーワード(6)(和/英) |
超伝導集積回路 / Superconducting Integrated Circuit |
| キーワード(7)(和/英) |
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| キーワード(8)(和/英) |
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| 第1著者 氏名(和/英/ヨミ) |
前澤 正明 / Masaaki Maezawa / マエザワ マサアキ |
| 第1著者 所属(和/英) |
産業技術総合研究所 (略称: 産総研)
National Institute of Advanced Science and Technology (略称: AIST) |
| 第2著者 氏名(和/英/ヨミ) |
山田 隆宏 / Takahiro Yamada / ヤマダ タカヒロ |
| 第2著者 所属(和/英) |
産業技術総合研究所 (略称: 産総研)
National Institute of Advanced Science and Technology (略称: AIST) |
| 第3著者 氏名(和/英/ヨミ) |
浦野 千春 / Chiharu Urano / ウラノ チハル |
| 第3著者 所属(和/英) |
産業技術総合研究所 (略称: 産総研)
National Institute of Advanced Science and Technology (略称: AIST) |
| 第4著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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| 講演者 |
第1著者 |
| 発表日時 |
2013-07-22 13:30:00 |
| 発表時間 |
25分 |
| 申込先研究会 |
SCE |
| 資料番号 |
SCE2013-16 |
| 巻番号(vol) |
vol.113 |
| 号番号(no) |
no.149 |
| ページ範囲 |
pp.33-38 |
| ページ数 |
6 |
| 発行日 |
2013-07-15 (SCE) |