お知らせ 2023年度・2024年度 学生員 会費割引キャンペーン実施中です
お知らせ 技術研究報告と和文論文誌Cの同時投稿施策(掲載料1割引き)について
お知らせ 電子情報通信学会における研究会開催について
お知らせ NEW 参加費の返金について
電子情報通信学会 研究会発表申込システム
講演論文 詳細
技報閲覧サービス
[ログイン]
技報アーカイブ
 トップに戻る 前のページに戻る   [Japanese] / [English] 

講演抄録/キーワード
講演名 2013-10-03 10:20
超伝導ストリップイオン検出器による巨大分子の高感度質量分析
全 伸幸志岐成友藤井 剛浮辺雅宏小池正記大久保雅隆産総研SCE2013-31 エレソ技報アーカイブへのリンク:SCE2013-31
抄録 (和) 従来,飛行時間型質量分析計(Time-Of-Flight Mass Spectrometer; TOF MS)の分子検出部にはマイクロチャンネルプレート(Microchannel Plate; MCP)が用いられてきたが,分子の質量が大きくなるにつれて検出感度が劣化するという問題点があった.超伝導検出器は,巨大分子の衝突に対しても100%の検出効率を示すことから,近年いくつかの種類の超伝導検出器が開発されている.中でも,厚さ数十nm,線幅数百nmの超伝導ストリップ線から成る超伝導ストリップイオン検出器(Superconducting Strip Ion Detector; SSID)は,最先端のMCPと同程度のナノ秒高速応答性を示し,分子量非依存の検出感度をTOF MSに付与できることから,次世代の分子検出器として期待されている.本研究では,まずSSIDの検出原理を述べ、大面積と高速応答性を両立した並列型SSIDの検出器特性を紹介する. 
(英) Superconducting detectors are promising for next-generation ion detectors for time-of-flight mass spectrometry (TOF MS). They can achieve a mass-independent detection efficiency even for macromolecules because output pulses are produced through the deposited kinetic energy of tens of keV at ion impact. Among the superconducting detectors, superconducting nano-strip ion detectors (SSIDs) which consist of superconducting strips have a fast response time of ~ns, and we have succeeded in realizing the large detection area without degrading the response time by the parallel configuration of superconducting strips. In this study, the principle of SSIDs and the detecting properties of the parallel-configured SSID will be summarized.
キーワード (和) 超伝導ストリップ / SSID / 質量分析 / TOF MS / 生体分子 / / /  
(英) Superconducting strip / SSID / TOF MS / Biomolecule / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 113, no. 232, SCE2013-31, pp. 67-70, 2013年10月.
資料番号 SCE2013-31 
発行日 2013-09-25 (SCE) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード SCE2013-31 エレソ技報アーカイブへのリンク:SCE2013-31

研究会情報
研究会 SCE  
開催期間 2013-10-02 - 2013-10-03 
開催地(和) 東北大学・電気通信研究所 
開催地(英) Tohoku University, RIEC 
テーマ(和) 超伝導センシング基盤技術及びその応用、一般 
テーマ(英) Superconducting sensing technologies and their applications, etc. 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 SCE 
会議コード 2013-10-SCE 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 超伝導ストリップイオン検出器による巨大分子の高感度質量分析 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Superconducting strip ion detectors for high throughput macromolecules mass spectrometry 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 超伝導ストリップ / Superconducting strip  
キーワード(2)(和/英) SSID / SSID  
キーワード(3)(和/英) 質量分析 / TOF MS  
キーワード(4)(和/英) TOF MS / Biomolecule  
キーワード(5)(和/英) 生体分子 /  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 全 伸幸 / Nobuyuki Zen / ゼン ノブユキ
第1著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所 (略称: 産総研)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称: AIST)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 志岐 成友 / Shigetomo Shiki / シキ シゲトモ
第2著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所 (略称: 産総研)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称: AIST)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 藤井 剛 / Go Fujii / フジイ ゴウ
第3著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所 (略称: 産総研)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称: AIST)
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) 浮辺 雅宏 / Masahiro Ukibe / ウキベ マサヒロ
第4著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所 (略称: 産総研)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称: AIST)
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) 小池 正記 / Masaki Koike / コイケ マサキ
第5著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所 (略称: 産総研)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称: AIST)
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) 大久保 雅隆 / Masataka Ohkubo / オオクボ マサタカ
第6著者 所属(和/英) 産業技術総合研究所 (略称: 産総研)
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology (略称: AIST)
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第7著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第8著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第9著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第9著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第10著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第10著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第11著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第11著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第12著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第12著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第13著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第13著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第14著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第14著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第15著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第15著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第16著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第16著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第17著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第17著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第18著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第18著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第19著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第19著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
第20著者 氏名(和/英/ヨミ) / /
第20著者 所属(和/英) (略称: )
(略称: )
講演者 第1著者 
発表日時 2013-10-03 10:20:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 SCE 
資料番号 SCE2013-31 
巻番号(vol) vol.113 
号番号(no) no.232 
ページ範囲 pp.67-70 
ページ数
発行日 2013-09-25 (SCE) 


[研究会発表申込システムのトップページに戻る]

[電子情報通信学会ホームページ]


IEICE / 電子情報通信学会