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講演抄録/キーワード
講演名 2013-11-12 15:45
[ポスター講演]最適化に基づく多変量二標本検定とその高速化
新村祐紀齋田裕介竹内一郎名工大IBISML2013-42
抄録 (和) 近年, 多変量2 標本検定が様々な場面で使われており, その重要性が増してきている. 多変量2 標本検定における検定の能力の高さは, 検定統計量にどのような値を用いるかに大きく左右される. 従来研究においても, 様々な検定統計量を用いた検定手法が提案されている. 本研究では, 凸最適化問題の目的関数値を検定統計量とするアプローチを考察し, その並べ替え帰無分布の計算を効率的に計算する方法を提案する. 
(英) Multivariate two-sample test has recently attracted a great deal of interest and its importance has been increasing in many applications. The power of multivariate two-sample test highly depends on the choice of test
statistic. Many kinds of the multivariate two-sample tests have been studied. In this paper, we study a class of nonparametric test whose statistic is defined by a convex optimization problem. For this class of multivariate two-sample tests, we propose an approach for efficiently computing the null permutation distribution.
キーワード (和) 多変量2 標本検定 / 最適化問題 / ラベル並び替え検定 / / / / /  
(英) multivariate two-sample test / optimization / permutation test / / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 113, no. 286, IBISML2013-42, pp. 45-52, 2013年11月.
資料番号 IBISML2013-42 
発行日 2013-11-05 (IBISML) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード IBISML2013-42

研究会情報
研究会 IBISML  
開催期間 2013-11-10 - 2013-11-13 
開催地(和) 東京工業大学 蔵前会館 
開催地(英) Tokyo Institute of Technology, Kuramae-Kaikan 
テーマ(和) 第16回情報論的学習理論ワークショップ & 第2回IBISMLチュートリアル 
テーマ(英) The 16th IBIS Workshop & The 2nd IBIS Tutorial 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 IBISML 
会議コード 2013-11-IBISML 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) 最適化に基づく多変量二標本検定とその高速化 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Optimization-based Multivariate Two-sample Test and Its Efficient Computation 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 多変量2 標本検定 / multivariate two-sample test  
キーワード(2)(和/英) 最適化問題 / optimization  
キーワード(3)(和/英) ラベル並び替え検定 / permutation test  
キーワード(4)(和/英) /  
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キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 新村 祐紀 / Yuki Shinmura / シンムラ ユウキ
第1著者 所属(和/英) 名古屋工業大学 (略称: 名工大)
Nagoya Institute of Technology (略称: Nagoya Inst. of Tech.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 齋田 裕介 / Yusuke Saida / サイダ ユウスケ
第2著者 所属(和/英) 名古屋工業大学 (略称: 名工大)
Nagoya Institute of Technology (略称: Nagoya Inst. of Tech.)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 竹内 一郎 / Ichiro Takeuchi /
第3著者 所属(和/英) 名古屋工業大学 (略称: 名工大)
Nagoya Institute of Technology (略称: Nagoya Inst. of Tech.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2013-11-12 15:45:00 
発表時間 180分 
申込先研究会 IBISML 
資料番号 IBISML2013-42 
巻番号(vol) vol.113 
号番号(no) no.286 
ページ範囲 pp.45-52 
ページ数
発行日 2013-11-05 (IBISML) 


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