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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2013-11-14 14:00 故障解析をサポートする最新のエックス線技術 ～ エックス線検査の基礎から応用まで、革新技術による観察応用事例 ～ ○夏原正仁（島津製作所）  R2013-74 |
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| 抄録 | （和） | Ｘ線検査の基礎から応用まで、革新技術による観察応用事例を豊富に取り上げ解説致します。はんだ接合部の検査や、熱サイクル評価試験、樹脂成型、製造検証、MEMS微細加工測定など様々な分野で活躍しています。 |
| （英） | Newest non-destructive X-ray inspection technology of conducting research and development and failure analysis －It introduces from the foundation to application.－ |
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| キーワード | （和） | 故障解析 / 信頼性評価 / Ｘ線CT / / / / / |
| （英） | / / / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 113, no. 289, R2013-74, pp. 1-3, 2013年11月. | |
| 資料番号 | R2013-74 | |
| 発行日 | 2013-11-07 (R) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | R2013-74 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | R |
| 開催期間 | 2013-11-14 - 2013-11-14 |
| 開催地（和） | 中央電気倶楽部 |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | 半導体と電子デバイスの信頼性，信頼性一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | R |
| 会議コード | 2013-11-R |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 故障解析をサポートする最新のエックス線技術 |
| サブタイトル（和） | エックス線検査の基礎から応用まで、革新技術による観察応用事例 |
| タイトル（英） | Newest non-destructive X-ray inspection technology of conducting research and development and failure analysis |
| サブタイトル（英） | It introduces from the foundation to application. |
| キーワード(1)（和/英） | 故障解析 / |
| キーワード(2)（和/英） | 信頼性評価 / |
| キーワード(3)（和/英） | Ｘ線CT / |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 夏原 正仁 / Masahito Natsuhara / ナツハラ マサヒト |
| 第1著者 所属（和/英） | 株式会社島津製作所 (略称： 島津製作所) Shimadzu Corporation (略称： shimadzu) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2013-11-14 14:00:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | R |
| 資料番号 | R2013-74 |
| 巻番号（vol） | vol.113 |
| 号番号（no） | no.289 |
| ページ範囲 | pp.1-3 |
| ページ数 | 3 |
| 発行日 | 2013-11-07 (R) |
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