| 講演抄録/キーワード |
| 講演名 |
2013-11-14 14:25
ロックインサーモグラフィによる効率的な非破壊故障箇所の同定 ○長友俊信(DCGシステムズ) R2013-75 |
| 抄録 |
(和) |
発熱現象を非常に感度良くとらえることのできるロックインサーモグラフィ(LIT)は、電子・電気部品の故障を非破壊かつ短時間で解析できる手法として、近年大きな注目を集めている。本稿では、DCG社ELITEによるパワー半導体、車載ユニットなどの故障解析への適用事例紹介を通じて、LITを用いることにより非破壊での故障箇所同定作業が飛躍的に改善されることを示す。 |
| (英) |
ELITE has been widely accepted as an effective non- destructive defect localization tool. It is based on Lock-in Thermography (LIT) utilizing highly sensitive IR camera and serves not only for semiconductor failure analysis but also more electrical failure analysis applications widely. In this paper the basic of LIT is to be presented and several real test cases are introduced. |
| キーワード |
(和) |
ロックインサーモグラフィ / 非破壊 / 故障箇所同定 / / / / / |
| (英) |
Lock-in thermography / non-destructive / defect localization / / / / / |
| 文献情報 |
信学技報, vol. 113, no. 289, R2013-75, pp. 5-9, 2013年11月. |
| 資料番号 |
R2013-75 |
| 発行日 |
2013-11-07 (R) |
| ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
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R2013-75 |