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講演抄録/キーワード
講演名 2013-11-14 14:25
ロックインサーモグラフィによる効率的な非破壊故障箇所の同定
長友俊信DCGシステムズR2013-75
抄録 (和) 発熱現象を非常に感度良くとらえることのできるロックインサーモグラフィ(LIT)は、電子・電気部品の故障を非破壊かつ短時間で解析できる手法として、近年大きな注目を集めている。本稿では、DCG社ELITEによるパワー半導体、車載ユニットなどの故障解析への適用事例紹介を通じて、LITを用いることにより非破壊での故障箇所同定作業が飛躍的に改善されることを示す。 
(英) ELITE has been widely accepted as an effective non- destructive defect localization tool. It is based on Lock-in Thermography (LIT) utilizing highly sensitive IR camera and serves not only for semiconductor failure analysis but also more electrical failure analysis applications widely. In this paper the basic of LIT is to be presented and several real test cases are introduced.
キーワード (和) ロックインサーモグラフィ / 非破壊 / 故障箇所同定 / / / / /  
(英) Lock-in thermography / non-destructive / defect localization / / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 113, no. 289, R2013-75, pp. 5-9, 2013年11月.
資料番号 R2013-75 
発行日 2013-11-07 (R) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード R2013-75

研究会情報
研究会 R  
開催期間 2013-11-14 - 2013-11-14 
開催地(和) 中央電気倶楽部 
開催地(英)  
テーマ(和) 半導体と電子デバイスの信頼性,信頼性一般 
テーマ(英)  
講演論文情報の詳細
申込み研究会 R 
会議コード 2013-11-R 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) ロックインサーモグラフィによる効率的な非破壊故障箇所の同定 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Effective non-destructive defect localization by using Enhanced Lock-In Thermography 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) ロックインサーモグラフィ / Lock-in thermography  
キーワード(2)(和/英) 非破壊 / non-destructive  
キーワード(3)(和/英) 故障箇所同定 / defect localization  
キーワード(4)(和/英) /  
キーワード(5)(和/英) /  
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キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 長友 俊信 / Toshinobu Nagatomo / ナガトモ トシノブ
第1著者 所属(和/英) DCGシステムズ合同会社 (略称: DCGシステムズ)
DCG Systems, G.K. (略称: DCG Systems)
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講演者 第1著者 
発表日時 2013-11-14 14:25:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 R 
資料番号 R2013-75 
巻番号(vol) vol.113 
号番号(no) no.289 
ページ範囲 pp.5-9 
ページ数
発行日 2013-11-07 (R) 


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