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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2013-11-22 13:05 IEC規格に則った小型制御基板へのESD試験に関する検討 ○季 承・安在大祐・王 建青（名工大）・森 育子（鈴鹿高専）・藤原 修（名工大）  EMCJ2013-91 |
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| 抄録 | （和） | 筋電義手モーターの制御に用いるバッテリー駆動の小型制御回路基板に対し，国際電気標準会議規定の静電気放電（Electrostatic discharge: ESD）に対する電子機器のイミュ二ティ試験(IEC61000-4-2)を，規格に準拠して行った．同基板を水平結合板上に設置または垂直結合板の近傍に配置して，これらの結合板へのESDガンによる接触放電を50 ms毎に連続999回行うバースト間接放電試験を±4 kV及び±8 kVの試験レベルで各3回行い，パルス幅変調(Pulse Width Modulation: PWM)波形（周期：20 ms，パルス幅：750 us）をディジタルオシロスコープ（帯域：1.5 GHz，サンプリング周波数：8 GHz）により観測した．観測波形を計算機に取り込みパルス幅の統計解析を行った結果，ESDノイズのPWM信号への影響は主に次の2種類のパルスに起因することがわかった．すなわち，?ESDノイズそのものに起因するPWMパルスのパルス幅外に誘導された2 us以下の短いパルス（Type Aと呼ぶ），及び，?ESDノイズが直接にPWMパルスに重畳し，本来の時間幅750 usのPWMパルスが数十～数百 usの時間幅を有するパルスに分割されてしまう場合（Type Bと呼ぶ）である．また，?±4 kVの放電では時間幅2 us以下のType Aのパルスの発生が主流であるのに対し，±8 kVの放電ではType Aに加えType Bのパルスも多数存在すること，?正極性放電と負極性放電の双方の場合おいて時間幅十～数百 usのType Bのパルスが観測されたこと，?垂直結合板への接触放電よりも水平結合板への接触放電の方がパルス幅に対する影響が大きいこと，などもわかった |
| （英） | In conformity with the IEC61000-4-2 standard, we conducted a case study of electrostatic discharge (ESD) tests for a small-type battery-operated control circuit board to investigate the coupling characteristics of induced noises by indirect ESD tests. With a vertical coupling metal plane (VCP) and a horizontal coupling metal plane (HCP), the test was conducted at ±4 kV and ±8 kV charging voltages. Pulse width modulation (PWM) signal outputs (period: 20 ms, pulse width: 750 us), which were used for controlling a pulse motor, were measured with a 1.5-GHz digital oscilloscope (sampling frequency: 8 GHz) and were statistically analyzed with respect to their pulse widths. The analyzed results show that the induced noises could be divided into two types: the first type is very short pulses with pulse widths less than 2 us which are caused by the ESD tests themselves, while the other one is the induced pulses with pulse widths from tens to hundreds us overlapping on the PWM signals, which produce another PWM signals with several short pulse widths less than 750 us. This type noise may result in causing a malfunction of the pulse motor. Furthermore, from the experiment more findings could be derived as follows: Firstly, the main interference from the indirect ESDs comes from the first type, and the higher charge voltage an ESD gun has, more frequently both types appear. Secondly, no matter which polarity induced noise voltages from the ESD gun have, both types of interference can be observed. Finally, the HCP provides stronger interference than the VCP | |
| キーワード | （和） | 静電気放電 / イミュ二ティ試験 / IEC 61000-4-2 / 制御基板 / / / / |
| （英） | ESD / indirect discharges / immunity test / control board / PWM signal / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 113, no. 310, EMCJ2013-91, pp. 1-6, 2013年11月. | |
| 資料番号 | EMCJ2013-91 | |
| 発行日 | 2013-11-15 (EMCJ) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | EMCJ2013-91 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMCJ |
| 開催期間 | 2013-11-22 - 2013-11-22 |
| 開催地（和） | 東京電機大 |
| 開催地（英） | Tokyo Denki Univ. |
| テーマ（和） | EMC, 一般 |
| テーマ（英） | EMC |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | EMCJ |
| 会議コード | 2013-11-EMCJ |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | IEC規格に則った小型制御基板へのESD試験に関する検討 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Study of IEC ESD Testing for Small-Sized Control Board |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 静電気放電 / ESD |
| キーワード(2)（和/英） | イミュ二ティ試験 / indirect discharges |
| キーワード(3)（和/英） | IEC 61000-4-2 / immunity test |
| キーワード(4)（和/英） | 制御基板 / control board |
| キーワード(5)（和/英） | / PWM signal |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 季 承 / Ji Cheng / キ ショウ |
| 第1著者 所属（和/英） | 名古屋工業大学 (略称： 名工大) Nagoya Institute of Technology (略称： NIT) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 安在 大祐 / Daisuke Anzai / アンザイ ダイスケ |
| 第2著者 所属（和/英） | 名古屋工業大学 (略称： 名工大) Nagoya Institute of Technology (略称： NIT) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 王 建青 / Jianqing Wang / オウ ケンセイ |
| 第3著者 所属（和/英） | 名古屋工業大学 (略称： 名工大) Nagoya Institute of Technology (略称： NIT) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 森 育子 / Ikuko Mori / モリ イクコ |
| 第4著者 所属（和/英） | 鈴鹿工業高等専門学校 (略称： 鈴鹿高専) Suzuka National College of Technology (略称： SNCT) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 藤原 修 / Osamu Fujiwara / フジワラ オサム |
| 第5著者 所属（和/英） | 名古屋工業大学 (略称： 名工大) Nagoya Institute of Technology (略称： NIT) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2013-11-22 13:05:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | EMCJ |
| 資料番号 | EMCJ2013-91 |
| 巻番号（vol） | vol.113 |
| 号番号（no） | no.310 |
| ページ範囲 | pp.1-6 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2013-11-15 (EMCJ) |
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