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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2013-11-28 11:05 ［招待講演］VLSIの信頼性を向上させる再構成可能アーキテクチャ ○尾上孝雄・橋本昌宜（阪大）・密山幸男（高知工科大）・Dawood Alnajjar・郡浦宏明（阪大）  VLD2013-87 CPM2013-122 ICD2013-99 CPSY2013-63 DC2013-53 RECONF2013-51 |
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| 抄録 | （和） | 近年，VLSIの正常動作を保証する信頼性確保が，医療，金融，航空宇宙などの，いわゆるミッション・クリティカルな応用分野で重要視されている．本講演では，これらの応用システムで用いるVLSIの信頼性向上を，再構成可能アーキテクチャで実現する手法について説明する．粗粒度演算器を組み合わせて空間的冗長性を実現するとともに，構成情報についても冗長化し信頼性を確保する．信頼性要求度に応じて冗長構成を変更し，集積度と信頼性のトレードオフを考慮しつつ機能実現が可能な構成方式となっている．また，動的な部分再構成で故障を回避する試みや，細粒度要素の取り込みによるより広範な応用のサポートについても言及する．最後に，これらVLSIを実際に試作し信頼性を評価した結果についても述べる． |
| （英） | Owing to wide spread of VLSI systems, a failure of the VLSIs may lead critical issue in our daily life. Especially in so-called “mission critical” applications, such as medical, transportation, and aero-space fields, error-tolerant VLSI designs have attracted users’ attention. As devices get smaller, critical charge, which is the minimum charge to cause a bit flip, becomes smaller, and functional correctness has been threatened by soft errors. In addition, negative bias temperature instability (NBTI) has become more prominent, and designers are encountering complications in the guaranteeing of device life time due to the aging process. On the other hand, reliability requirements depend on applications and operating environment, and hence, a design scheme that can flexibly choose countermeasures to reliability degradation is demanded. To cope with these requirements, a novel dynamically reconfigurable architecture is introduced, which can avoid soft errors and mitigate aging effects. The cluster array based architecture can be configured in a set of redundancy modes to offer different reliabilities. In addition, an attempt for fault avoidance based on partial dynamic reconfiguration as well as an introduction of fine grained facilities to enable more efficient implementation of applications are explained. Experimental results based on VLSI chip fabrication are also reported to demonstrate practicability of the proposed approach. | |
| キーワード | （和） | 粗粒度 / 空間冗長性 / 故障回避 / 動的再構成 / MTTF / / / |
| （英） | coarse grained architecture / modular redundancy / fault avoidance / dynamic reconifguration / MTTF / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 113, no. 325, RECONF2013-51, pp. 69-69, 2013年11月. | |
| 資料番号 | RECONF2013-51 | |
| 発行日 | 2013-11-20 (VLD, CPM, ICD, CPSY, DC, RECONF) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | VLD2013-87 CPM2013-122 ICD2013-99 CPSY2013-63 DC2013-53 RECONF2013-51 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD DC IPSJ-SLDM CPSY RECONF ICD CPM |
| 開催期間 | 2013-11-27 - 2013-11-29 |
| 開催地（和） | 鹿児島県文化センター |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | デザインガイア2013 -VLSI設計の新しい大地- |
| テーマ（英） | Design Gaia 2013 -New Field of VLSI Design- |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | RECONF |
| 会議コード | 2013-11-VLD-DC-SLDM-CPSY-RECONF-ICD-CPM |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | VLSIの信頼性を向上させる再構成可能アーキテクチャ |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Toward VLSI Reliability Enhancement by Reconfigurable Architecture |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | 粗粒度 / coarse grained architecture |
| キーワード(2)（和/英） | 空間冗長性 / modular redundancy |
| キーワード(3)（和/英） | 故障回避 / fault avoidance |
| キーワード(4)（和/英） | 動的再構成 / dynamic reconifguration |
| キーワード(5)（和/英） | MTTF / MTTF |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 尾上 孝雄 / Takao Onoye / |
| 第1著者 所属（和/英） | 大阪大学 (略称： 阪大) Osaka University (略称： Osaka Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 橋本 昌宜 / Masanori Hashimoto / |
| 第2著者 所属（和/英） | 大阪大学 (略称： 阪大) Osaka University (略称： Osaka Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 密山 幸男 / Yukio Mitsuyama / |
| 第3著者 所属（和/英） | 高知工科大学 (略称： 高知工科大) Kochi University of Technology (略称： Kochi Univ. of Tech.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | Dawood Alnajjar / Dawood Alnajjar / |
| 第4著者 所属（和/英） | 大阪大学 (略称： 阪大) Osaka University (略称： Osaka Univ.) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 郡浦 宏明 / Hiroaki Konoura / |
| 第5著者 所属（和/英） | 大阪大学 (略称： 阪大) Osaka University (略称： Osaka Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2013-11-28 11:05:00 |
| 発表時間 | 50分 |
| 申込先研究会 | RECONF |
| 資料番号 | VLD2013-87, CPM2013-122, ICD2013-99, CPSY2013-63, DC2013-53, RECONF2013-51 |
| 巻番号（vol） | vol.113 |
| 号番号（no） | no.320(VLD), no.322(CPM), no.323(ICD), no.324(CPSY), no.321(DC), no.325(RECONF) |
| ページ範囲 | p.183(VLD), p.81(CPM), p.81(ICD), p.27(CPSY), p.183(DC), p.69(RECONF) |
| ページ数 | 1 |
| 発行日 | 2013-11-20 (VLD, CPM, ICD, CPSY, DC, RECONF) |
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