| 電子情報通信学会 研究会発表申込システム 講演論文 詳細 |
技報閲覧サービス [ログイン] 技報アーカイブ |
| トップに戻る | 前のページに戻る | [Japanese] / [English] |
| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2013-12-02 09:30 Measurement for Permittivity and Thickness of Multilayered Dielectric Plate by Through Radar ○Hirokazu Kobayashi（Osaka Institute of Tech.）  SANE2013-71 |
|
| 抄録 | （和） | (まだ登録されていません) |
| （英） | Using wall-through radar, we can obtain image of the front object by means of scanning an antenna mechanically or electrically. In this case information of the wall equivalent permittivity and thickness are necessary in order to compensate the position error of the image caused by the delay phase of the wall. On the contrary, we can estimate electric constant of the wall by comparing with the target image position with no wall. In this paper, we discuss mechanism of radar imaging construction by applying array-factor concept for near position target. Then, showing approximate method for no electrical information wall, from which it is available to estimate equivalent permittivity and thickness of the wall under considering the practical application. | |
| キーワード | （和） | / / / / / / / |
| （英） | wall-through radar / array-factor / radar imaging / multilayered dielectric / equivalent permittivity / wall thickness / near-field / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 113, no. 335, SANE2013-71, pp. 1-6, 2013年12月. | |
| 資料番号 | SANE2013-71 | |
| 発行日 | 2013-11-25 (SANE) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | SANE2013-71 |
|
| 研究会情報 | |
| 研究会 | SANE |
| 開催期間 | 2013-12-02 - 2013-12-03 |
| 開催地（和） | VAST/VNSC(1日目) & Melia Hotel, Hanoi（2日目） |
| 開催地（英） | VAST/VNSC(2nd Dec.) & Melia Hotel (3rd Dec), Hanoi, Vietnam |
| テーマ（和） | ICSANE 2013 (International Conference on Space, Aeronautical and Navigational Electronics) |
| テーマ（英） | ICSANE 2013 (International Conference on Space, Aeronautical and Navigational Electronics) |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | SANE |
| 会議コード | 2013-12-SANE |
| 本文の言語 | 英語 |
| タイトル（和） | |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Measurement for Permittivity and Thickness of Multilayered Dielectric Plate by Through Radar |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | / wall-through radar |
| キーワード(2)（和/英） | / array-factor |
| キーワード(3)（和/英） | / radar imaging |
| キーワード(4)（和/英） | / multilayered dielectric |
| キーワード(5)（和/英） | / equivalent permittivity |
| キーワード(6)（和/英） | / wall thickness |
| キーワード(7)（和/英） | / near-field |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 小林 弘一 / Hirokazu Kobayashi / コバヤシ ヒロカズ |
| 第1著者 所属（和/英） | 大阪工業大学 (略称： 阪工大) Osaka Institute of Technology (略称： Osaka Institute of Tech.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2013-12-02 09:30:00 |
| 発表時間 | 20分 |
| 申込先研究会 | SANE |
| 資料番号 | SANE2013-71 |
| 巻番号（vol） | vol.113 |
| 号番号（no） | no.335 |
| ページ範囲 | pp.1-6 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2013-11-25 (SANE) |
[研究会発表申込システムのトップページに戻る]