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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2013-12-11 14:55 ICカードへの電磁波照射攻撃事例におけるフォールト生起プロセス ○土屋 遊・大野 仁・松本 勉（横浜国大）  ISEC2013-77 |
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| 抄録 | （和） | 暗号モジュールに部分的なフォールトを誘発し状況を観察することによりモジュール内部の暗号鍵を暴くフォールト攻撃は強力な攻撃方法であるため，その耐性評価法の確立が求められている．しかし，フォールト攻撃の可能性を机上で指摘した論文は多いが，実験による検証結果を示したものは極めて少ない．このため，実際にフォールトを誘発した環境，条件などに関する知見を集積することには意義がある．我々は電磁波照射によるフォールト攻撃評価環境を構築し，ブロック暗号AES（128ビット鍵）をソフトウェア実装した（特段の対策をしていない）接触型ICカードの動作中にフォールトを誘発し暗号鍵を求めることに成功し，鍵の抽出方法について報告を行った．しかしフォールトがどのようにして誘発されたかという物理的原因の特定は課題となっていた．今回，その物理的原因が特定できたため報告を行う． |
| （英） | Fault injection attack, inducing partial fault in a cryptographic module and extracting the inside key, has been considered to be a security threat, and there is a need to develop a method to evaluate the security of cryptographic modules against the fault attack. In our research, we have developed an experiment environment for fault injection attack using electromagnetic irradiation to evaluate the security of cryptographic modules. This environment irradiates electromagnetic wave to a smartcard with software-implemented AES. In this paper, we show the process by which faults are injected on Smart Cards. | |
| キーワード | （和） | ICカード / マイクロコントローラ / フォールト攻撃 / クロックグリッチ / AES / DFA / 暗号 / |
| （英） | Smart Card / Microcontroller / Fault Injection Attack / Electromagnetic Wave / AES / DFA / Cryptography / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 113, no. 342, ISEC2013-77, pp. 25-31, 2013年12月. | |
| 資料番号 | ISEC2013-77 | |
| 発行日 | 2013-12-04 (ISEC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | ISEC2013-77 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | ISEC |
| 開催期間 | 2013-12-11 - 2013-12-11 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | 一般 |
| テーマ（英） | |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | ISEC |
| 会議コード | 2013-12-ISEC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | ICカードへの電磁波照射攻撃事例におけるフォールト生起プロセス |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | The Process by which Faults are Injected on Smart Cards Attacked by an Electromagnetic Irradiation Experiment |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | ICカード / Smart Card |
| キーワード(2)（和/英） | マイクロコントローラ / Microcontroller |
| キーワード(3)（和/英） | フォールト攻撃 / Fault Injection Attack |
| キーワード(4)（和/英） | クロックグリッチ / Electromagnetic Wave |
| キーワード(5)（和/英） | AES / AES |
| キーワード(6)（和/英） | DFA / DFA |
| キーワード(7)（和/英） | 暗号 / Cryptography |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 土屋 遊 / Yuu Tsuchiya / ツチヤ ユウ |
| 第1著者 所属（和/英） | 横浜国立大学 (略称： 横浜国大) Yokohama National University (略称： Yokohama National Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 大野 仁 / Hitoshi Ono / オオノ ヒトシ |
| 第2著者 所属（和/英） | 横浜国立大学 (略称： 横浜国大) Yokohama National University (略称： Yokohama National Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 松本 勉 / Tsutomu Matsumoto / マツモト ツトム |
| 第3著者 所属（和/英） | 横浜国立大学 (略称： 横浜国大) Yokohama National University (略称： Yokohama National Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2013-12-11 14:55:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | ISEC |
| 資料番号 | ISEC2013-77 |
| 巻番号（vol） | vol.113 |
| 号番号（no） | no.342 |
| ページ範囲 | pp.25-31 |
| ページ数 | 7 |
| 発行日 | 2013-12-04 (ISEC) |
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