| 講演抄録/キーワード |
| 講演名 |
2013-12-13 11:40
スパッタリングより形成したAl2O3膜をゲート絶縁膜とするCLC低温poly-Si TFT ○目黒達也・原 明人(東北学院大) SDM2013-124 |
| 抄録 |
(和) |
高誘電率ゲート絶縁膜は,低温多結晶Si(poly-Si)薄膜トランジスタ(TFT)の性能向上のためのテクノロジ・ブースタである.一方で,連続波レーザラテラル結晶化(CLC)が高品質のラテラル大粒径多結晶Si薄膜を形成するための強力な手段であることは既に報告されている.我々は,二つの技術を組み合わせて電界効果移動度が140 cm2/Vs,s値が240 mV/decという優れた性能を実現した.これらは,high-k CLC LT poly-Si TFTの可能性を示すものである. |
| (英) |
A high-k gate dielectric is a technology booster for enhancing the performance of low-temperature (LT) polycrystalline-silicon (poly-Si) thin-film transistors (TFTs). Continuous-wave laser lateral crystallization (CLC) had already been reported as a powerful tool for forming high-quality lateral large-grained poly-Si thin films. We combined these two technologies and achieved high performance with s.s.=240 mV/dec and field-effect mobility of 140 cm2/Vs. These demonstrated the feasibility of high-k CLC LT poly-Si TFTs. |
| キーワード |
(和) |
薄膜トランジスタ / 低温多結晶Si / レーザ結晶化 / SiO_2 / Al_2O_3 / / / |
| (英) |
TFT / LTPS / Laser Crystallization / SiO_2 / Al_2O_3 / / / |
| 文献情報 |
信学技報, vol. 113, no. 351, SDM2013-124, pp. 49-53, 2013年12月. |
| 資料番号 |
SDM2013-124 |
| 発行日 |
2013-12-06 (SDM) |
| ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
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