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講演抄録/キーワード
講演名 2013-12-13 11:40
スパッタリングより形成したAl2O3膜をゲート絶縁膜とするCLC低温poly-Si TFT
目黒達也原 明人東北学院大SDM2013-124
抄録 (和) 高誘電率ゲート絶縁膜は,低温多結晶Si(poly-Si)薄膜トランジスタ(TFT)の性能向上のためのテクノロジ・ブースタである.一方で,連続波レーザラテラル結晶化(CLC)が高品質のラテラル大粒径多結晶Si薄膜を形成するための強力な手段であることは既に報告されている.我々は,二つの技術を組み合わせて電界効果移動度が140 cm2/Vs,s値が240 mV/decという優れた性能を実現した.これらは,high-k CLC LT poly-Si TFTの可能性を示すものである. 
(英) A high-k gate dielectric is a technology booster for enhancing the performance of low-temperature (LT) polycrystalline-silicon (poly-Si) thin-film transistors (TFTs). Continuous-wave laser lateral crystallization (CLC) had already been reported as a powerful tool for forming high-quality lateral large-grained poly-Si thin films. We combined these two technologies and achieved high performance with s.s.=240 mV/dec and field-effect mobility of 140 cm2/Vs. These demonstrated the feasibility of high-k CLC LT poly-Si TFTs.
キーワード (和) 薄膜トランジスタ / 低温多結晶Si / レーザ結晶化 / SiO_2 / Al_2O_3 / / /  
(英) TFT / LTPS / Laser Crystallization / SiO_2 / Al_2O_3 / / /  
文献情報 信学技報, vol. 113, no. 351, SDM2013-124, pp. 49-53, 2013年12月.
資料番号 SDM2013-124 
発行日 2013-12-06 (SDM) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
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PDFダウンロード SDM2013-124

研究会情報
研究会 SDM  
開催期間 2013-12-13 - 2013-12-13 
開催地(和) 奈良先端科学技術大学院大学 
開催地(英) NAIST 
テーマ(和) シリコン関連材料の作製と評価 
テーマ(英) Fabrication and Characterization of Si related materials 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 SDM 
会議コード 2013-12-SDM 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) スパッタリングより形成したAl2O3膜をゲート絶縁膜とするCLC低温poly-Si TFT 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Low-Temprature CLC Poly-Si TFTs with Sputtered Al2O3 Gate Dielectric Layer 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) 薄膜トランジスタ / TFT  
キーワード(2)(和/英) 低温多結晶Si / LTPS  
キーワード(3)(和/英) レーザ結晶化 / Laser Crystallization  
キーワード(4)(和/英) SiO_2 / SiO_2  
キーワード(5)(和/英) Al_2O_3 / Al_2O_3  
キーワード(6)(和/英) /  
キーワード(7)(和/英) /  
キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 目黒 達也 / Tatsuya Meguro / メグロ タツヤ
第1著者 所属(和/英) 東北学院大学 (略称: 東北学院大)
Tohoku Gakuin University (略称: Tohoku Gakuin Univ.)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 原 明人 / Akito Hara / ハラ アキト
第2著者 所属(和/英) 東北学院大学 (略称: 東北学院大)
Tohoku Gakuin University (略称: Tohoku Gakuin Univ.)
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講演者 第1著者 
発表日時 2013-12-13 11:40:00 
発表時間 20分 
申込先研究会 SDM 
資料番号 SDM2013-124 
巻番号(vol) vol.113 
号番号(no) no.351 
ページ範囲 pp.49-53 
ページ数
発行日 2013-12-06 (SDM) 


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