| 電子情報通信学会 研究会発表申込システム 講演論文 詳細 |
技報閲覧サービス [ログイン] 技報アーカイブ |
| トップに戻る | 前のページに戻る | [Japanese] / [English] |
| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2013-12-13 13:25 FPGAの自己テストのための可変タイミングクロック生成 ○佐藤康夫・松浦宗寛・荒川 等・三宅庸資・梶原誠司（九工大）  DC2013-69 |
|
| 抄録 | （和） | FPGAに搭載された論理を自己テストする際の可変テストタイミング生成手法を提案する．FPGAのアプリケーション依存テストは，シリコンデバッグやオンラインテストでの品質向上を狙いとして実施されるが，テスト容易化のための再コンフィグレーションを行うため，本来の回路パス遅延をテストすることは困難である． そこで筆者らは，可変なテストタイミングを用いて搭載論理がどこまで速く動作可能か測定するテスト手法を検討している．本論文ではそのテスト手法で用いるPLLの位相シフト機能を用いた高精度な可変テストタイミング生成手法を提案する． |
| （英） | This paper proposes a variable test-timing generation method that should be used for built-in self-test on FPGA. Application-dependent test for FPGA targets quality improvement in silicon debug or online test; however, as it requires reconfigurations for design for testability, it is difficult to test the original path delay. To tackle this problem, the authors propose a test method that measures the fastest operating speed of the circuit using variable test timing. The paper proposes a variable test-timing generation method that utilizes embedded phase-shift function of PLL. | |
| キーワード | （和） | FPGA / 自己テスト / 可変テストタイミング / PLL / 位相シフト / / / |
| （英） | FPGA / Built-In Self-Test / Variable test-timing / PLL / Phase-shift / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 113, no. 353, DC2013-69, pp. 7-12, 2013年12月. | |
| 資料番号 | DC2013-69 | |
| 発行日 | 2013-12-06 (DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | DC2013-69 |
|
| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
| 開催期間 | 2013-12-13 - 2013-12-13 |
| 開催地（和） | 和倉温泉観光会館 |
| 開催地（英） | |
| テーマ（和） | 安全性および一般 |
| テーマ（英） | Safety, etc. |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2013-12-DC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | FPGAの自己テストのための可変タイミングクロック生成 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Variable Test-Timing Generation for Built-In Self-Test on FPGA |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | FPGA / FPGA |
| キーワード(2)（和/英） | 自己テスト / Built-In Self-Test |
| キーワード(3)（和/英） | 可変テストタイミング / Variable test-timing |
| キーワード(4)（和/英） | PLL / PLL |
| キーワード(5)（和/英） | 位相シフト / Phase-shift |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 佐藤 康夫 / Yasuo Sato / サトウ ヤスオ |
| 第1著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： Kyushu Inst. of Tech.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 松浦 宗寛 / Munehiro Matsuura / マツウラ ムネヒロ |
| 第2著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： Kyushu Inst. of Tech.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 荒川 等 / Hitoshi Arakawa / アラカワ ヒトシ |
| 第3著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： Kyushu Inst. of Tech.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 三宅 庸資 / Yousuke Miyake / ミヤケ ヨウスケ |
| 第4著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： Kyushu Inst. of Tech.) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 梶原 誠司 / Seiji Kajihara / カジハラ セイジ |
| 第5著者 所属（和/英） | 九州工業大学 (略称： 九工大) Kyushu Institute of Technology (略称： Kyushu Inst. of Tech.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2013-12-13 13:25:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | DC2013-69 |
| 巻番号（vol） | vol.113 |
| 号番号（no） | no.353 |
| ページ範囲 | pp.7-12 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2013-12-06 (DC) |
[研究会発表申込システムのトップページに戻る]