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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2013-12-20 15:50 rポート測定による2rポートSパラメータの推定 ○前田 登・福井伸治・直井 孝（日本自動車部品総研）・市川浩司（デンソー）・関根敏和・高橋康宏（岐阜大）  EMCJ2013-107 |
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| 抄録 | （和） | 測定によって相反2rポート回路のSパラメータを求める一方法を述べている．すなわち，2rポート回路のr個のポートに既知の負荷を接続し，残りのrポートの反射・透過特性を測定することで，2rポートとしてのSパラメータを推定する．このとき，非線形の連立方程式を解かなくとも，線形方程式と2次代数方程式を解くのみでSパラメータが求まるように推定式を工夫している．本方法では，既知の負荷を接続するポートに測定器を接続する必要がない．したがって，測定器を接続するのが困難なポートを持つ回路，および，ポート間のグランドが共通でない回路のSパラメータを求めるのに有用である．また，8ポート回路と見なせる回路基板のSパラメータ推定に本方法を適用し，本方法の有効性を確かめている． |
| （英） | An estimation method of the 2r-port S-parameters for reciprocal circuits is presented. In this method, several known loads are connected to r-ports in turn and reflection and transmission characteristics among the remaining r-ports are measured. Therefore, there is no need to connect a network analyzer to the ports that are connected to the known loads. S-parameters are obtained by solving several linear equations and quadratic equations only. In addition, applying this method to estimate the S-parameters of a circuit board as an 8-port circuit, validness of this method is confirmed. | |
| キーワード | （和） | Sパラメータ / 多ポート回路 / イミュニティ試験 / 車両部品 / ICチップ / / / |
| （英） | S-parameter / multiple port circuit / immunity test / automotive components / IC chip / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 113, no. 368, EMCJ2013-107, pp. 55-60, 2013年12月. | |
| 資料番号 | EMCJ2013-107 | |
| 発行日 | 2013-12-13 (EMCJ) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | EMCJ2013-107 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | EMCJ IEE-EMC |
| 開催期間 | 2013-12-20 - 2013-12-20 |
| 開催地（和） | (株)デンソー |
| 開催地（英） | Denso co. |
| テーマ（和） | 電力, 生体, EMC, 一般 |
| テーマ（英） | Power electronics, Biomedical, EMC, etc. |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | EMCJ |
| 会議コード | 2013-12-EMCJ-EMC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | rポート測定による2rポートSパラメータの推定 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Estimation for 2r-port S-parameters by the r-Port Measurements |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | Sパラメータ / S-parameter |
| キーワード(2)（和/英） | 多ポート回路 / multiple port circuit |
| キーワード(3)（和/英） | イミュニティ試験 / immunity test |
| キーワード(4)（和/英） | 車両部品 / automotive components |
| キーワード(5)（和/英） | ICチップ / IC chip |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 前田 登 / Noboru Maeda / マエダ ノボル |
| 第1著者 所属（和/英） | 株式会社日本自動車部品総合研究所 (略称： 日本自動車部品総研) NIPPON SOKEN, INC. (略称： NIPPON SOKEN) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 福井 伸治 / Shinji Fukui / フクイ シンジ |
| 第2著者 所属（和/英） | 株式会社日本自動車部品総合研究所 (略称： 日本自動車部品総研) NIPPON SOKEN, INC. (略称： NIPPON SOKEN) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 直井 孝 / Takashi Naoi / ナオイ タカシ |
| 第3著者 所属（和/英） | 株式会社日本自動車部品総合研究所 (略称： 日本自動車部品総研) NIPPON SOKEN, INC. (略称： NIPPON SOKEN) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 市川 浩司 / Kouji Ichikawa / イチカワ コウジ |
| 第4著者 所属（和/英） | 株式会社デンソー (略称： デンソー) DENSO CORPORATION (略称： DENSO) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 関根 敏和 / Toshikazu Sekine / セキネ トシカズ |
| 第5著者 所属（和/英） | 岐阜大学 (略称： 岐阜大) Gifu University (略称： Gifu Univ.) |
| 第6著者 氏名（和/英/ヨミ） | 高橋 康宏 / Yasuhiro Takahashi / タカハシ ヤスヒロ |
| 第6著者 所属（和/英） | 岐阜大学 (略称： 岐阜大) Gifu University (略称： Gifu Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2013-12-20 15:50:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | EMCJ |
| 資料番号 | EMCJ2013-107 |
| 巻番号（vol） | vol.113 |
| 号番号（no） | no.368 |
| ページ範囲 | pp.55-60 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2013-12-13 (EMCJ) |
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