講演抄録/キーワード |
講演名 |
2014-01-29 14:50
FPGAにおける特性ばらつきとBTI劣化の測定結果に基づく性能予測 ○籔内美智太郎・小林和淑(京都工繊大) VLD2013-129 CPSY2013-100 RECONF2013-83 |
抄録 |
(和) |
65nmプロセスFPGAにおけるBTIによる経年劣化現象の回路への影響を測定データ
を元にモデル化し,長期的な劣化の予測手法を提案する。近年,最先端微細プロ
セスで製造されるFPGAにおいて,BTIによる経年劣化の回路動作への影響は深刻化
している。BTIの影響にはデバイス毎に異なっており,従来は回路の劣化を長期的に
予測することは困難であった。本発表ではFPGAにコンフィギュレーションしたリ
ングオシレータを用いた特性ばらつきと経年劣化現象の測定デー
タから,デバイスの特性に基づいた劣化予測をモデル化する。提
案する劣化予測モデルによるとBTIによる経年劣化が最悪値
になる場合,10年経過後にリングオシレータの発振周波数は4%減少することが分かった。 |
(英) |
We propose a prediction model for BTI-induced degradation by
measurement data on 65nm-process FPGAs. BTI-induced degradation is
becoming an important reliability problem on highly scaled FPGAs.
The degradation prediction is indispensable. But it is hard to predict the
amount of degradations because the aging process is fluctuated by
random device characteristics. We measure and analyze process variations
and the aging degradation by ring oscillators on 60nm FPGAs.
In this paper, the prediction model for process variations and BTI is
proposed and the frequency of the worst case ring oscillator is
decreasing 4% for 10years. |
キーワード |
(和) |
FPGA / BTI / 経年劣化予測 / 信頼性 / 特性ばらつき / / / |
(英) |
FPGA / degradation prediction / reliability / process variation / BTI / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 113, no. 416, VLD2013-129, pp. 161-166, 2014年1月. |
資料番号 |
VLD2013-129 |
発行日 |
2014-01-21 (VLD, CPSY, RECONF) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
PDFダウンロード |
VLD2013-129 CPSY2013-100 RECONF2013-83 |
研究会情報 |
研究会 |
IPSJ-SLDM CPSY RECONF VLD |
開催期間 |
2014-01-28 - 2014-01-29 |
開催地(和) |
慶応義塾大学 日吉キャンパス |
開催地(英) |
Hiyoshi Campus, Keio University |
テーマ(和) |
FPGA応用および一般 |
テーマ(英) |
FPGA Applications, etc |
講演論文情報の詳細 |
申込み研究会 |
VLD |
会議コード |
2014-01-SLDM-CPSY-RECONF-VLD |
本文の言語 |
日本語 |
タイトル(和) |
FPGAにおける特性ばらつきとBTI劣化の測定結果に基づく性能予測 |
サブタイトル(和) |
|
タイトル(英) |
Prediction Model for Process Variation and BTI-Induced Degradation by Measurement Data on FPGA |
サブタイトル(英) |
|
キーワード(1)(和/英) |
FPGA / FPGA |
キーワード(2)(和/英) |
BTI / degradation prediction |
キーワード(3)(和/英) |
経年劣化予測 / reliability |
キーワード(4)(和/英) |
信頼性 / process variation |
キーワード(5)(和/英) |
特性ばらつき / BTI |
キーワード(6)(和/英) |
/ |
キーワード(7)(和/英) |
/ |
キーワード(8)(和/英) |
/ |
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) |
籔内 美智太郎 / Michitarou Yabuuchi / ヤブウチ ミチタロウ |
第1著者 所属(和/英) |
京都工芸繊維大学 (略称: 京都工繊大)
Kyoto Institute of Technology (略称: Kyoto Inst. of Tech.) |
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) |
小林 和淑 / Kazutoshi Kobayashi / コバヤシ カズトシ |
第2著者 所属(和/英) |
京都工芸繊維大学 (略称: 京都工繊大)
Kyoto Institute of Technology (略称: Kyoto Inst. of Tech.) |
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第3著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第4著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第5著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第5著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第6著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第6著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第7著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第7著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第8著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第8著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第9著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第9著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第10著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第10著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第11著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第11著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第12著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第12著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第13著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第13著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第14著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第14著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第15著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第15著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第16著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第16著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第17著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第17著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第18著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第18著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第19著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第19著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
第20著者 氏名(和/英/ヨミ) |
/ / |
第20著者 所属(和/英) |
(略称: )
(略称: ) |
講演者 |
第1著者 |
発表日時 |
2014-01-29 14:50:00 |
発表時間 |
25分 |
申込先研究会 |
VLD |
資料番号 |
VLD2013-129, CPSY2013-100, RECONF2013-83 |
巻番号(vol) |
vol.113 |
号番号(no) |
no.416(VLD), no.417(CPSY), no.418(RECONF) |
ページ範囲 |
pp.161-166 |
ページ数 |
6 |
発行日 |
2014-01-21 (VLD, CPSY, RECONF) |
|