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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2014-02-10 10:55 SATを用いた低キャプチャ電力指向ドントケア割当て法 ○高橋慶安・山崎紘史・細川利典（日大）・吉村正義（九大）  DC2013-83 |
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| 抄録 | （和） | ディープサブミクロン時代の実速度スキャンテストにおいて，キャプチャ時の消費電力の増加が問題となっている．キャプチャ時の高い消費電力は過度のIRドロップを引き起こす可能性があり，歩留まり低下の原因のひとつに挙げられる．ドントケア判定とドントケア割当てを用いたテストパターン修正法がキャプチャ時の消費電力を削減するうえで効果的であることが知られている．従来提案されている低消費電力指向ドントケア割当て法はフリップフロップでの遷移回数を削減するために逐次的にフリップフロップの遷移を抑制する処理を実行する．本論文では，複数のフリップフロップの遷移を同時に抑制するために，SATを用いた新しい低消費電力指向ドントケア割当て法を提案する．実験結果は提案法がJP-fillと比較してISCAS’89とITC’99ベンチマーク回路に対して効果的であったことを示す． |
| （英） | High power dissipation can occur by high launch-induced switching activity when the response to a test pattern is captured by flip-flops in at-speed scan testing, resulting in excessive IR drop, which may cause significant capture-induced yield loss in the deep submicron era. It is known that test modification methods using X-identification and X-filling are effective to reduce capture power dissipation. Conventional low power dissipation oriented X-filling methods are consecutively conducted for each flip-flop to reduce the number of transition at flip-flops. In this paper, we propose a novel low power dissipation oriented X-filling method using SAT engine which conducts simultaneous X-filling for some flip-flops. Experimental results show that the proposed method was effective for ISCAS’89 and ITC’99 benchmark circuits compared with justification-probability-based fill. | |
| キーワード | （和） | ドントケア割当て / キャプチャ消費電力 / 充足可能性問題 / 遷移故障 / / / / |
| （英） | don’t care filling / capture power consumption / Satisfiability Problem / transition faults / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 113, no. 430, DC2013-83, pp. 25-30, 2014年2月. | |
| 資料番号 | DC2013-83 | |
| 発行日 | 2014-02-03 (DC) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | DC2013-83 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | DC |
| 開催期間 | 2014-02-10 - 2014-02-10 |
| 開催地（和） | 機械振興会館 |
| 開催地（英） | Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
| テーマ（和） | VLSI設計とテストおよび一般 |
| テーマ（英） | VLSI Design and Test, etc. |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | DC |
| 会議コード | 2014-02-DC |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | SATを用いた低キャプチャ電力指向ドントケア割当て法 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | A Low Power Dissipation Oriented Don't Care Filling Method Using SAT |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | ドントケア割当て / don’t care filling |
| キーワード(2)（和/英） | キャプチャ消費電力 / capture power consumption |
| キーワード(3)（和/英） | 充足可能性問題 / Satisfiability Problem |
| キーワード(4)（和/英） | 遷移故障 / transition faults |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 高橋 慶安 / Yoshiyasu Takahashi / タカハシ ヨシヤス |
| 第1著者 所属（和/英） | 日本大学 (略称： 日大) Nihon University (略称： Nihon Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 山崎 紘史 / Hiroshi Yamazaki / ヤマザキ ヒロシ |
| 第2著者 所属（和/英） | 日本大学 (略称： 日大) Nihon University (略称： Nihon Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 細川 利典 / Toshinori Hosokawa / ホソカワ トシノリ |
| 第3著者 所属（和/英） | 日本大学 (略称： 日大) Nihon University (略称： Nihon Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 吉村 正義 / Masayoshi Yoshimura / ヨシムラ マサヨシ |
| 第4著者 所属（和/英） | 九州大学 (略称： 九大) Kyushu University (略称： Kyushu Univ) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2014-02-10 10:55:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | DC |
| 資料番号 | DC2013-83 |
| 巻番号（vol） | vol.113 |
| 号番号（no） | no.430 |
| ページ範囲 | pp.25-30 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2014-02-03 (DC) |
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