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講演抄録/キーワード
講演名 2014-02-10 15:35
BASTにおけるスキャンシフト制御および反転信号の部分リセットによるテストデータ量削減法
森 凌太四柳浩之橋爪正樹徳島大DC2013-88
抄録 (和) スキャンベースBIST の技術を応用した手法として,BIST 内部で発生する擬似乱数パターンをインバータブロックで反転し,ATPG パターンを回路に印加することで高い故障検出率を得ることが出来るBAST(BIST-Aided Scan Test) が提案されている.
本稿では,BAST におけるテストデータ量削減のためのスキャンシフト制御および反転信号の部分リセット法を提案する.
提案手法は,LFSR から出力されるパターンから,より有効なスキャンスライスのみを適宜使用し, また, 反転信号の部分的なリセットを可能とすることでテストデータ量の削減が可能である.
ISCAS89,ITC99ベンチマーク回路を対象回路として, 提案手法のテストデータ量削減効果を評価する. 
(英) BIST-aided scan test (BAST) has been proposed as one of the techniques that enhances scan-based BIST. The BAST architecture can achieve high fault coverage by applying ATPG patterns to a circuit through the inverter block that flips some bits in random pattern generated by LFSR.
In this paper, we propose a test pattern generation method for BAST that controls scan shift and applies partial reset of inverter code to reduce test data.
The proposed method can reduce the number of BASTcodes required inverter code by partial reset and generate effective LFSR patterns by controlling scanshift.
We also show the effectiveness of our method by the experimental results for ISCAS 89 and ITC99 benchmark circuits.
キーワード (和) BAST / テストデータ量削減 / テストパターン生成 / / / / /  
(英) BAST / test data reduction / test pattern generation / / / / /  
文献情報 信学技報, vol. 113, no. 430, DC2013-88, pp. 55-60, 2014年2月.
資料番号 DC2013-88 
発行日 2014-02-03 (DC) 
ISSN Print edition: ISSN 0913-5685    Online edition: ISSN 2432-6380
著作権に
ついて
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034)
PDFダウンロード DC2013-88

研究会情報
研究会 DC  
開催期間 2014-02-10 - 2014-02-10 
開催地(和) 機械振興会館 
開催地(英) Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. 
テーマ(和) VLSI設計とテストおよび一般 
テーマ(英) VLSI Design and Test, etc. 
講演論文情報の詳細
申込み研究会 DC 
会議コード 2014-02-DC 
本文の言語 日本語 
タイトル(和) BASTにおけるスキャンシフト制御および反転信号の部分リセットによるテストデータ量削減法 
サブタイトル(和)  
タイトル(英) Test Data Reduction Method for BIST-Aided Scan Test by Controlling Scan Shift and Partial Reset of Inverter Code 
サブタイトル(英)  
キーワード(1)(和/英) BAST / BAST  
キーワード(2)(和/英) テストデータ量削減 / test data reduction  
キーワード(3)(和/英) テストパターン生成 / test pattern generation  
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キーワード(8)(和/英) /  
第1著者 氏名(和/英/ヨミ) 森 凌太 / Ryota Mori / モリ リョウタ
第1著者 所属(和/英) 徳島大学 (略称: 徳島大)
The University of Tokushima (略称: Univ. of Tokushima)
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) 四柳 浩之 / Hiroyuki Yotsuyanagi / ヨツヤナギ ヒロユキ
第2著者 所属(和/英) 徳島大学 (略称: 徳島大)
The University of Tokushima (略称: Univ. of Tokushima)
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) 橋爪 正樹 / Masaki Hashizume / ハシヅメ マサキ
第3著者 所属(和/英) 徳島大学 (略称: 徳島大)
The University of Tokushima (略称: Univ. of Tokushima)
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講演者 第1著者 
発表日時 2014-02-10 15:35:00 
発表時間 25分 
申込先研究会 DC 
資料番号 DC2013-88 
巻番号(vol) vol.113 
号番号(no) no.430 
ページ範囲 pp.55-60 
ページ数
発行日 2014-02-03 (DC) 


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