講演抄録/キーワード |
講演名 |
2014-02-10 15:35
BASTにおけるスキャンシフト制御および反転信号の部分リセットによるテストデータ量削減法 ○森 凌太・四柳浩之・橋爪正樹(徳島大) DC2013-88 |
抄録 |
(和) |
スキャンベースBIST の技術を応用した手法として,BIST 内部で発生する擬似乱数パターンをインバータブロックで反転し,ATPG パターンを回路に印加することで高い故障検出率を得ることが出来るBAST(BIST-Aided Scan Test) が提案されている.
本稿では,BAST におけるテストデータ量削減のためのスキャンシフト制御および反転信号の部分リセット法を提案する.
提案手法は,LFSR から出力されるパターンから,より有効なスキャンスライスのみを適宜使用し, また, 反転信号の部分的なリセットを可能とすることでテストデータ量の削減が可能である.
ISCAS89,ITC99ベンチマーク回路を対象回路として, 提案手法のテストデータ量削減効果を評価する. |
(英) |
BIST-aided scan test (BAST) has been proposed as one of the techniques that enhances scan-based BIST. The BAST architecture can achieve high fault coverage by applying ATPG patterns to a circuit through the inverter block that flips some bits in random pattern generated by LFSR.
In this paper, we propose a test pattern generation method for BAST that controls scan shift and applies partial reset of inverter code to reduce test data.
The proposed method can reduce the number of BASTcodes required inverter code by partial reset and generate effective LFSR patterns by controlling scanshift.
We also show the effectiveness of our method by the experimental results for ISCAS 89 and ITC99 benchmark circuits. |
キーワード |
(和) |
BAST / テストデータ量削減 / テストパターン生成 / / / / / |
(英) |
BAST / test data reduction / test pattern generation / / / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 113, no. 430, DC2013-88, pp. 55-60, 2014年2月. |
資料番号 |
DC2013-88 |
発行日 |
2014-02-03 (DC) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
PDFダウンロード |
DC2013-88 |
研究会情報 |
研究会 |
DC |
開催期間 |
2014-02-10 - 2014-02-10 |
開催地(和) |
機械振興会館 |
開催地(英) |
Kikai-Shinko-Kaikan Bldg. |
テーマ(和) |
VLSI設計とテストおよび一般 |
テーマ(英) |
VLSI Design and Test, etc. |
講演論文情報の詳細 |
申込み研究会 |
DC |
会議コード |
2014-02-DC |
本文の言語 |
日本語 |
タイトル(和) |
BASTにおけるスキャンシフト制御および反転信号の部分リセットによるテストデータ量削減法 |
サブタイトル(和) |
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タイトル(英) |
Test Data Reduction Method for BIST-Aided Scan Test by Controlling Scan Shift and Partial Reset of Inverter Code |
サブタイトル(英) |
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キーワード(1)(和/英) |
BAST / BAST |
キーワード(2)(和/英) |
テストデータ量削減 / test data reduction |
キーワード(3)(和/英) |
テストパターン生成 / test pattern generation |
キーワード(4)(和/英) |
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キーワード(5)(和/英) |
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キーワード(6)(和/英) |
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キーワード(7)(和/英) |
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キーワード(8)(和/英) |
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第1著者 氏名(和/英/ヨミ) |
森 凌太 / Ryota Mori / モリ リョウタ |
第1著者 所属(和/英) |
徳島大学 (略称: 徳島大)
The University of Tokushima (略称: Univ. of Tokushima) |
第2著者 氏名(和/英/ヨミ) |
四柳 浩之 / Hiroyuki Yotsuyanagi / ヨツヤナギ ヒロユキ |
第2著者 所属(和/英) |
徳島大学 (略称: 徳島大)
The University of Tokushima (略称: Univ. of Tokushima) |
第3著者 氏名(和/英/ヨミ) |
橋爪 正樹 / Masaki Hashizume / ハシヅメ マサキ |
第3著者 所属(和/英) |
徳島大学 (略称: 徳島大)
The University of Tokushima (略称: Univ. of Tokushima) |
第4著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第5著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第6著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第8著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第10著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第11著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第12著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第13著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第14著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第15著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第16著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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第20著者 氏名(和/英/ヨミ) |
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講演者 |
第1著者 |
発表日時 |
2014-02-10 15:35:00 |
発表時間 |
25分 |
申込先研究会 |
DC |
資料番号 |
DC2013-88 |
巻番号(vol) |
vol.113 |
号番号(no) |
no.430 |
ページ範囲 |
pp.55-60 |
ページ数 |
6 |
発行日 |
2014-02-03 (DC) |