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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2014-03-03 13:00 非均質なリングオシレータを用いたランダムテレグラフノイズの特性解析 ○西村彰平・松本高士（京大）・小林和淑（京都工繊大）・小野寺秀俊（京大）  VLD2013-134 |
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| 抄録 | （和） | 近年のLSIの微細化に伴い、ランダムテレグラフノイズが組み合わせ回路の遅延に与える影響が増大している。非均質なリングオシレータを用いて、ランダムテレグラフノイズが回路に及ぼす影響を正確に見積もる手法を提案する。スイッチング動作におけるPMOSFET、NMOSFETのランダムテレグラフノイズの振幅量およびトラップ数はゲート幅に強く依存することを確認した。ゲート幅の小さいトランジスタを用いる際には、ランダムテレグラフノイズの影響を十分考慮する必要がある。 |
| （英） | RTN has severe impact on combinational logic circuits. Extracting accurate (RTN-induced) variation information is a huge challenge. We estimated RTN amplitude and the number of detectable traps on PMOSFETs and NMOSFETs under operating condition. In both of PMOSFETs and NMOSMOSFETs, RTN amplitude and the number of traps strongly depend on gate area. We should consider Random Telegraph Noise when we design. | |
| キーワード | （和） | CMOS / 信頼性 / ランダムテレグラフノイズ / / / / / |
| （英） | CMOS / reliability / Random Telegraph Noise / / / / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 113, no. 454, VLD2013-134, pp. 1-6, 2014年3月. | |
| 資料番号 | VLD2013-134 | |
| 発行日 | 2014-02-24 (VLD) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | VLD2013-134 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD |
| 開催期間 | 2014-03-03 - 2014-03-05 |
| 開催地（和） | 沖縄県青年会館 |
| 開催地（英） | Okinawa Seinen Kaikan |
| テーマ（和） | システムオンシリコンを支える設計技術 |
| テーマ（英） | Design Technology for System-on-Silicon |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | VLD |
| 会議コード | 2014-03-VLD |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 非均質なリングオシレータを用いたランダムテレグラフノイズの特性解析 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Characterization of Random Telegraph Noise using Inhomogeneous Ring Oscillator |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | CMOS / CMOS |
| キーワード(2)（和/英） | 信頼性 / reliability |
| キーワード(3)（和/英） | ランダムテレグラフノイズ / Random Telegraph Noise |
| キーワード(4)（和/英） | / |
| キーワード(5)（和/英） | / |
| キーワード(6)（和/英） | / |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 西村 彰平 / Shohei Nishimura / ニシムラ ショウヘイ |
| 第1著者 所属（和/英） | 京都大学 (略称： 京大) Kyoto University (略称： Kyoto Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 松本 高士 / Takashi Matsumoto / マツモト タカシ |
| 第2著者 所属（和/英） | 京都大学 (略称： 京大) Kyoto University (略称： Kyoto Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 小林 和淑 / Kazutoshi Kobayashi / コバヤシ カズトシ |
| 第3著者 所属（和/英） | 京都工芸繊維大学 (略称： 京都工繊大) Kyoto Instutute of Technology (略称： Kyoto Inst. of Tech.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 小野寺 秀俊 / Hidetoshi Onodera / オノデラ ヒデトシ |
| 第4著者 所属（和/英） | 京都大学 (略称： 京大) Kyoto University (略称： Kyoto Univ.) |
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| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2014-03-03 13:00:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | VLD |
| 資料番号 | VLD2013-134 |
| 巻番号（vol） | vol.113 |
| 号番号（no） | no.454 |
| ページ範囲 | pp.1-6 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2014-02-24 (VLD) |
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