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| 講演抄録／キーワード | ||
| 講演名 | 2014-03-03 16:25 改良ランダムオーダースキャンによるセキュアスキャン設計とその評価 ○大屋 優・跡部悠太・史 又華・柳澤政生・戸川 望（早大）  VLD2013-141 |
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| 抄録 | （和） | 大規模集積回路のテスト容易化設計の1つであるスキャンチェインを利用したスキャンテストが一般的に行われる. 反面スキャンチェインを利用して，暗号回路の秘密鍵が解読されるなどのスキャンベース攻撃が問題となっている. スキャンチェインをスキャンベース攻撃から保護するために，セキュアスキャンアーキテクチャの必要性が高まってきた. セキュアスキャンアーキテクチャは，テスト性を保証すると共にスキャンベース攻撃からスキャンチェインを保護する必要がある. 本稿では，セキュアスキャンアーキテクチャとして改良ランダムオーダースキャンを提案する. 改良ランダムオーダースキャンは，ランダムオーダースキャンを改良したものであり，スキャンチェインの構造を動的に変化させ，スキャンベース攻撃からスキャンチェインを保護する. スキャンチェインを複数のサブチェインに分割し，イネーブル信号でスキャンアウトさせるサブチェインを次々と選択することで，スキャンチェインの構造が動的に変化する. 改良ランダムオーダースキャンの安全性とテスト性を議論し，また計算機実験により面積オーバーヘッドが小さいセキュアスキャンアーキテクチャであることを示す. |
| （英） | Scan test using scan chains is one of the most important DFT techniques. On the other hand, scan-based attacks are reported which can retrieve the secret key in crypto circuits by using scan chains. Secure scan architecture is strongly required to protect scan chains from scan-based attacks. In this paper, we propose an improved version of random order scans as a secure scan architecture. In our improved random order scans, a scan chain is partitioned into multiple sub-chains. The structure of the scan chain changes dynamically by selecting a subchain to scan out using enable signals. We also discuss testability and security of our improved random order scans and demonstrate their effectiveness through implementation results. |
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| キーワード | （和） | テスト容易化設計 / スキャンチェイン / セキュアスキャンアーキテクチャ / 安全性 / テスト性 / 面積オーバーヘッド / / |
| （英） | design for testability / scan chain / secure scan architecture / security / testability / area-overhead / / | |
| 文献情報 | 信学技報, vol. 113, no. 454, VLD2013-141, pp. 43-48, 2014年3月. | |
| 資料番号 | VLD2013-141 | |
| 発行日 | 2014-02-24 (VLD) | |
| ISSN | Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 | |
| 著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します．(許諾番号：10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) | |
| PDFダウンロード | VLD2013-141 |
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| 研究会情報 | |
| 研究会 | VLD |
| 開催期間 | 2014-03-03 - 2014-03-05 |
| 開催地（和） | 沖縄県青年会館 |
| 開催地（英） | Okinawa Seinen Kaikan |
| テーマ（和） | システムオンシリコンを支える設計技術 |
| テーマ（英） | Design Technology for System-on-Silicon |
| 講演論文情報の詳細 | |
| 申込み研究会 | VLD |
| 会議コード | 2014-03-VLD |
| 本文の言語 | 日本語 |
| タイトル（和） | 改良ランダムオーダースキャンによるセキュアスキャン設計とその評価 |
| サブタイトル（和） | |
| タイトル（英） | Secure scan design using improved random order scans and its evaluations |
| サブタイトル（英） | |
| キーワード(1)（和/英） | テスト容易化設計 / design for testability |
| キーワード(2)（和/英） | スキャンチェイン / scan chain |
| キーワード(3)（和/英） | セキュアスキャンアーキテクチャ / secure scan architecture |
| キーワード(4)（和/英） | 安全性 / security |
| キーワード(5)（和/英） | テスト性 / testability |
| キーワード(6)（和/英） | 面積オーバーヘッド / area-overhead |
| キーワード(7)（和/英） | / |
| キーワード(8)（和/英） | / |
| 第1著者 氏名（和/英/ヨミ） | 大屋 優 / Masaru Oya / オオヤ マサル |
| 第1著者 所属（和/英） | 早稲田大学 (略称： 早大) Waseda University (略称： Waseda Univ.) |
| 第2著者 氏名（和/英/ヨミ） | 跡部 悠太 / Yuta Atobe / アトベ ユウタ |
| 第2著者 所属（和/英） | 早稲田大学 (略称： 早大) Waseda University (略称： Waseda Univ.) |
| 第3著者 氏名（和/英/ヨミ） | 史 又華 / Youhua Shi / シ ヨウカ |
| 第3著者 所属（和/英） | 早稲田大学 (略称： 早大) Waseda University (略称： Waseda Univ.) |
| 第4著者 氏名（和/英/ヨミ） | 柳澤 政生 / Masao Yanagisawa / ヤナギサワ マサオ |
| 第4著者 所属（和/英） | 早稲田大学 (略称： 早大) Waseda University (略称： Waseda Univ.) |
| 第5著者 氏名（和/英/ヨミ） | 戸川 望 / Nozomu Togawa / トガワ ノゾム |
| 第5著者 所属（和/英） | 早稲田大学 (略称： 早大) Waseda University (略称： Waseda Univ.) |
| 講演者 | 第1著者 |
| 発表日時 | 2014-03-03 16:25:00 |
| 発表時間 | 25分 |
| 申込先研究会 | VLD |
| 資料番号 | VLD2013-141 |
| 巻番号（vol） | vol.113 |
| 号番号（no） | no.454 |
| ページ範囲 | pp.43-48 |
| ページ数 | 6 |
| 発行日 | 2014-02-24 (VLD) |
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