講演抄録/キーワード |
講演名 |
2014-03-04 14:10
顕微電界誘起光第二次高調波発生測定法を用いた有機EL素子のキャリヤ挙動の評価 ○貞方敦雄・矢野椋太・田口 大・間中孝彰・岩本光正(東工大) OME2013-94 エレソ技報アーカイブへのリンク:OME2013-94 |
抄録 |
(和) |
軸対称偏光パルスレーザーによる顕微電界誘起光第二次高調波発生測定法を用いて、二層有機EL素子(IZO/$alpha$-NPD/$Alq_3$/Al)の$alpha$-NPD層の膜厚方向の局所的な電界を検出した。EL発光面内での電界分布と有機積層界面の界面蓄積電荷量分布およびEL発光強度分布を測定し、EL発光面内でのEL発光に至るキャリヤ挙動についてMaxwell-Wagner効果に基づき考察した。その結果、二層有機EL素子のEL発光時において界面蓄積電荷分布とEL発光強度分布に相関があること、正孔による界面蓄積電荷が多い個所でEL発光強度が強くなることが示された。 |
(英) |
A novel microscopic electric-field-induced optical second-harmonic generation (EFISHG) measurement system using a radial polarized beam has been developed. The developed system can visualize electric fields along with thickness direction, electric fields and interfacial accumulation charge distributions on emitting surface, in double-layer organic light-emitting diodes with a structure of IZO/-NPD/Alq3/Al. During device operation, we measured the electric field of -NPD and EL intensity distributions on the surface of light emitting layer, and showed the relationship between the interfacial accumulation charge distribution and EL light intensity distribution. Results were analyzed based on the Maxwell-Wagner effect model. |
キーワード |
(和) |
顕微電界誘起光第二次高調波発生測定 / 有機EL素子 / 電界分布 / 界面電荷分布 / EL発光強度分布 / / / |
(英) |
microscopic EFISHG measurement using a radial polarized laser beam / organic light-emitting diodes / visualizing of electric fields and interfacial accumulation charge distributions / / / / / |
文献情報 |
信学技報, vol. 113, no. 461, OME2013-94, pp. 11-16, 2014年3月. |
資料番号 |
OME2013-94 |
発行日 |
2014-02-25 (OME) |
ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
技術研究報告に掲載された論文の著作権は電子情報通信学会に帰属します.(許諾番号:10GA0019/12GB0052/13GB0056/17GB0034/18GB0034) |
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