| 講演抄録/キーワード |
| 講演名 |
2014-04-17 16:15
Dark CELIV法による有機半導体薄膜の縦方向移動度評価 ○片桐千帆・中山健一(山形大) ED2014-8 |
| 抄録 |
(和) |
CELIV (Charge Extraction by Linearly Increasing Voltage)法は、直線的に増加する逆バイアス電圧を素子に印加したときの、内部キャリア取り出しに由来する変位電流過渡応答から移動度を求める手法で、有機太陽電池素子の縦方向移動度評価方法として注目されている。しかし、光を使わないDark CELIV法では、内部キャリアの少ない有機半導体材料に適用することが難しい。そこで本研究では、順バイアスから電圧をスイープさせキャリアを注入し、内部キャリアを増加させることでCELIV過渡応答シグナルの観測を可能にするInjected CELIV法について有用性を検討する。 |
| (英) |
The CELIV method can estimate charge-carrier mobility by transient displacement current originating from extraction equilibrium charge-carriers for reverse voltages. Recently, this method attracts much attention as a new mobility measurement method for organic solar cell materials. However, the Dark CELIV method (without laser pulse) cannot be applied to organic semiconductor materials having few equilibrium charge-carriers. In this study, we examine Injected CELIV method where transient current is enhanced by injected charge-carriers for forward voltages. |
| キーワード |
(和) |
CELIV / 移動度 / / / / / / |
| (英) |
CELIV / mobility / / / / / / |
| 文献情報 |
信学技報, vol. 114, no. 12, ED2014-8, pp. 27-30, 2014年4月. |
| 資料番号 |
ED2014-8 |
| 発行日 |
2014-04-10 (ED) |
| ISSN |
Print edition: ISSN 0913-5685 Online edition: ISSN 2432-6380 |
著作権に ついて |
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ED2014-8 |